[发明专利]一种传感器灰度校正方法、装置及异物检测机

权利要求书

1.一种传感器灰度校正方法，用于对X光成像系统的每个传感器灰度进行校正，其特征在于，所述方法包括：

获取待校正传感器的当前温度；

获取所述待校正传感器输出的待校正的第一灰度值；

根据所述当前温度和预存的第一映射关系，确定目标暗电平灰度值，其中，所述第一映射关系为多个暗电平灰度值与多个温度的对应关系；在预设背景，且无光照的情况下，针对不同工作温度所述待校正传感器输出的灰度值为相应温度对应的暗电平灰度值；

根据所述目标暗电平灰度值对所述第一灰度值进行暗电平校正；所述方法还包括：

对第二灰度值进行白平衡校正，其中，所述第二灰度值为根据所确定的暗电平灰度值对所述第一灰度值进行暗电平校正获得的；

所述对第二灰度值进行白平衡校正的步骤，包括：

根据所述第二灰度值和预存的第二映射关系，确定目标白平衡校正系数，其中，所述第二映射关系为多个灰度值与多个白平衡校正系数的对应关系，所述多个灰度值是在预设背景且不同X光照强度下所述待校正传感器输出的灰度值；

根据所述目标白平衡校正系数，对所述第二灰度值进行白平衡校正；

第二映射关系可以按照以下方式进行获取：

(1)、在预设的光照强度范围内，调整X射线源的光照强度；

(2)、在预设背景，以及所调整的光照强度下获取待校正传感器输出的第三灰度值；

(3)、根据预存的光照强度与目标校正值的第三映射关系确定所调整的光照强度对应的目标校正值，其中，D_n为目标校正值，B_n为光照强度，B为预设最大光照强度，D为预设最大目标校正值；

(4)、根据所调整的光照强度对应的第三灰度值与目标校正值，以及目标暗电平灰度值，计算白平衡校正系数；按照以下公式计算白平衡校正系数F：

F＝D_n/(C_n-A)

其中，C_n为所调整的光照强度对应的第三灰度值，D_n为所调整的光照强度对应的目标校正值，A为目标暗电平灰度值；

(5)、返回执行在预设的光照强度范围内，调整X射线源的光照强度的步骤，直至获取多个第三灰度值,以及对应的多个白平衡校正系数；

(6)、利用多个第三灰度值与多个白平衡校正系数的对应关系作为预存的第二映射关系。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一映射关系是按照以下方式获得的：

确定所述待校正传感器的工作温度范围；

在所述工作温度范围内，利用恒温箱模拟所述待校正传感器的工作温度；

在预设背景，且无光照的情况下，针对不同工作温度所述待校正传感器输出的灰度值为相应温度对应的暗电平灰度值；

将获得的温度与暗电平灰度值的对应关系作为所述第一映射关系。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述当前温度和预存的第一映射关系，确定目标暗电平灰度值的步骤，包括：

从所述第一映射关系的多个温度中确定与所述当前温度最接近的温度；

将所述第一映射关系中所确定的温度对应的暗电平灰度值作为目标暗电平灰度值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取相邻传感器的成像接缝处两侧的灰度值差；

判断所述灰度值差是否大于预设阈值，

如果是，更新预存的所述第二映射关系。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述更新预存的所述第二映射关系的步骤，包括：

在预设的光照强度范围内，调整X射线源的光照强度；

在预设背景，以及所调整的光照强度下获取所述待校正传感器输出的第三灰度值；

根据预存的光照强度与目标校正值的第三映射关系，确定所调整的光照强度对应的目标校正值；

根据所调整的光照强度对应的第三灰度值与目标校正值，以及所述目标暗电平灰度值，计算白平衡校正系数；

返回执行在预设的光照强度范围内，调整X射线源的光照强度的步骤，直至获取多个第三灰度值,以及对应的多个白平衡校正系数；

利用所述多个第三灰度值与所述多个白平衡校正系数的对应关系更新预存的第二映射关系。