[发明专利]一种膜厚测量辅助定位装置有效
申请号: | 201910889713.0 | 申请日: | 2017-05-28 |
公开(公告)号: | CN110722770B | 公开(公告)日: | 2021-08-13 |
发明(设计)人: | 鲍军民 | 申请(专利权)人: | 浙江商业职业技术学院 |
主分类号: | B29C48/92 | 分类号: | B29C48/92;B29C48/08;B29C48/00;G01B21/08;B29L7/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310053 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种膜厚测量辅助定位装置,其包括采集模块、分析处理模块、同步模块,以及强度调节模块、调焦模块、驱动模块和执行机构,执行机构中刻印单元的刻印头与挤出机模头螺栓有固定位置关系。本发明通过在铸片的预设位置上刻印出V形或U形缺口印记,然后对测厚仪输出的薄膜剖面厚度曲线进行分析处理,通过捕获缺口极值点来对模头螺栓进行准确定位。本发明能快速实现刻印单元与测厚仪的同步,并且通过同步能减少对刻印量的要求,辅助定位后获得的标记有所有模头螺栓位置的薄膜剖面厚度值数对集合,为薄膜厚度控制提供了实时依据。 | ||
搜索关键词: | 一种 测量 辅助 定位 装置 | ||
【主权项】:
1.一种膜厚测量辅助定位装置,包括采集模块、分析处理模块、同步模块,以及强度调节模块、调焦模块、驱动模块和执行机构;所述执行机构包括一个刻印单元,所述刻印单元设置在用来将从挤出机挤出的薄膜原料熔体贴在激冷辊上的主气刀的前方;所述采集模块从测厚仪获取薄膜剖面厚度曲线数据,由分析处理模块进行处理后向强度调节模块、调焦模块并通过同步模块向驱动模块发出指令信息,由所述强度调节模块、调焦模块和驱动模块控制执行机构动作,使刻印单元在由挤出机挤出后冷却成型的铸片的预设位置上刻印出V形或U形缺口印记。/n
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