[发明专利]一种膜厚测量辅助定位装置有效
申请号: | 201910889713.0 | 申请日: | 2017-05-28 |
公开(公告)号: | CN110722770B | 公开(公告)日: | 2021-08-13 |
发明(设计)人: | 鲍军民 | 申请(专利权)人: | 浙江商业职业技术学院 |
主分类号: | B29C48/92 | 分类号: | B29C48/92;B29C48/08;B29C48/00;G01B21/08;B29L7/00 |
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地址: | 310053 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 辅助 定位 装置 | ||
本发明公开了一种膜厚测量辅助定位装置,其包括采集模块、分析处理模块、同步模块,以及强度调节模块、调焦模块、驱动模块和执行机构,执行机构中刻印单元的刻印头与挤出机模头螺栓有固定位置关系。本发明通过在铸片的预设位置上刻印出V形或U形缺口印记,然后对测厚仪输出的薄膜剖面厚度曲线进行分析处理,通过捕获缺口极值点来对模头螺栓进行准确定位。本发明能快速实现刻印单元与测厚仪的同步,并且通过同步能减少对刻印量的要求,辅助定位后获得的标记有所有模头螺栓位置的薄膜剖面厚度值数对集合,为薄膜厚度控制提供了实时依据。
本申请为申请号201710429650.1、申请日2017年05月28日、发明名称“膜厚测量辅助定位装置及其与膜厚检测仪的同步方法”的分案申请。
技术领域
本发明涉及薄膜制造技术领域,具体涉及一种膜厚测量辅助定位装置。
背景技术
BOPP薄膜即双向拉伸聚丙烯薄膜是由双向拉伸所制得的,它是经过物理、化学和机械等手段特殊成型加工而成的塑料产品。BOPP生产线是一个非线性、时变、大延迟的复杂系统。其工艺流程主要包括:原料熔融、挤出、冷却成型、纵向拉伸、横向拉伸、切边、电晕处理、卷取等。
作为BOPP薄膜产品质量指标的物理机械性能如拉伸强度、断裂伸长率、浊度、光泽等,因主要决定于材料本身的属性,所以都易达到要求。而作为再加工性和使用性能的主要控制指标,即薄膜厚度偏差和薄膜平均厚度偏差,则主要决定于薄膜的制造过程。即使制造过程中薄膜厚度控制在在标准允许的偏差范围内,但经数千层膜收卷累计后,厚度偏差大的位置上就可能形成箍、暴筋或凹沟等不良缺陷,这些缺陷直接影响到用户的再加工使用。所以BOPP薄膜生产中最关键的质量间题是如何提高和稳定薄膜厚度精度,也正是这种薄膜厚度精度才直接影响到薄膜的使用价值,决定了薄膜的商品价值。
薄膜厚度控制基于对厚度的实时检测,如申请号为2014201577223的中国专利通过X射线扫描获得薄膜厚度后,分别采用两个PID调节器来进行薄膜横向和纵向厚度的控制,申请号为2007201517097的中国专利也采用了类似的方法,其同时指出,为了得到厚度均匀的薄膜,必须要实现厚度测量值和测量位置精确定位。申请号为2014204575910的中国专利则通过定边装置来进行基膜的对齐。
目前,对测厚仪输出的厚度数据进行螺栓对应的常用方法主要有以下两种,一是在不同螺栓处划线做记号,然后在测厚仪扫描架上找到对应的地方,以确定螺栓的位置;二是在用测厚仪检测剖面的同时,也测量出膜幅的实际宽度,参照模头的宽度来计算薄膜的缩颈量,进而对模头螺栓进行对应。这两种方法均需要人工根据实际生产情况进行辅助标识、测量和判断,人工判断不但不精确,也无法稳定。由于缺乏对薄膜剖面的连续准确定位,薄膜的厚度控制效果及所生产产品的质量往往受到影响。为此,需要解决自动对测厚仪输出的薄膜剖面厚度曲线进行螺栓定位的问题。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提供一种能辅助测厚仪对螺栓进行测厚定位的装置,通过在挤出成型的铸片预设位置上刻印印记后,对测厚仪输出的薄膜剖面厚度曲线进行采集和分析处理,获取印记位置,从而对挤出机模头螺栓进行准确定位,确定模头螺栓在厚度曲线上的坐标,为薄膜厚度控制系统提供完善准确的反馈信号。
本发明的技术解决方案是,提供一种以下结构的膜厚测量辅助定位装置,其包括采集模块、分析处理模块、同步模块,以及强度调节模块、调焦模块、驱动模块和执行机构,
所述执行机构包括一个刻印单元,所述刻印单元设置在用来将从挤出机挤出的薄膜原料熔体贴在激冷辊上的主气刀的前方;所述采集模块从测厚仪获取薄膜剖面厚度曲线数据,由分析处理模块进行处理后向强度调节模块、调焦模块并通过同步模块向驱动模块发出指令信息,由所述强度调节模块、调焦模块和驱动模块控制执行机构动作,使刻印单元在由挤出机挤出后冷却成型的铸片的预设位置上刻印出V形或U形缺口印记。
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