[发明专利]一种可进行角度修正的晶体非切割晶面衍射曲线测量方法有效
| 申请号： | 201910858291.0 | 申请日： | 2019-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN110658222B | 公开（公告）日： | 2021-11-19 |
| 发明（设计）人： | 向臻;王春梅;沈国土 | 申请（专利权）人： | 华东师范大学 |
| 主分类号： | G01N23/20016 | 分类号： | G01N23/20016;G01N23/207 |
| 代理公司： | 上海蓝迪专利商标事务所(普通合伙) 31215 | 代理人： | 徐筱梅;张翔 |
| 地址： | 200241 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种可进行角度修正的晶体非切割晶面衍射曲线测量方法，其特点是晶体非切割晶面衍射曲线测量方法包括：利用X射线实验仪进行基本参数设置和测角零点的重新设置等步骤，晶体非切割晶面衍射曲线测量的角度修正采用多次扫描（100）晶面第一级衍射峰对应的角度，得到靶台和探测器转角的修正值。本发明与现有技术相比具有方法简便，实验精度高，能校正靶台和探测器的角度，使测量得到的能量谱的误差最小，有效解决了能量多道方式的X射线实验仪中默认模式无法测量晶体非切割晶面和无角度自动校正的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 进行 角度 修正 晶体 切割 衍射 曲线 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种晶体非切割晶面衍射曲线测量方法，其特征在于利用X射线实验仪按下述步骤对晶体非切割晶面衍射曲线进行测量：/n（一）基本参数的设置/n将NaCl单晶固定在靶台上，运行软件CASSYLab，设置X光管的高压U=35.0kV，电流I=1.00mA，角步幅Δβ=0°；/n（二）测角零点的重新设置/n按TARGET键，设置角度为α°，即重新设置测角零点使入射方向与非切割晶面重合，其中α为NaCl晶体1x0晶面与100晶面间的夹角；/n（三）衍射曲线的测量/n按COUPLED键，设置角度为α+β'°，即靶台与入射方向夹角为α+β'°，其中β'为衍射角；按SENSOR键，探测器与入射方向的夹角为2β'°；按HV（ON/OFF）加上高压，然后按F9开始测量衍射曲线，测量结束后，按HV（ON/OFF）关闭高压，并将数据保存在EXCEL空文件中，所述测量时间为100s。/n
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