[发明专利]一种可进行角度修正的晶体非切割晶面衍射曲线测量方法

权利要求书

1.一种可进行角度修正的晶体非切割晶面衍射曲线测量方法，其特征在于包括以下步骤：

(一)100晶面第一级衍射极大

使用衍射方式X射线实验仪找出100晶面第一级衍射极大，将NaCl单晶固定在靶台上，启动软件“X-ray Apparatus”；设置X光管的高压U＝35.0kV，电流I＝1mA，测量时间Δt＝1s，角步幅Δβ＝0.1°，按COUPLED键，再按β键，设置下限角为2°，上限角为25°；按SCAN键进行自动扫描；扫描完成后将数据保存到EXCEL文件中，并记录第一级衍射峰对应的角度；

(二)二维扫描

使用能量多道方式的实验仪，将NaCl单晶固定在靶台上，运行软件CAASYLab2，设置X光管高压U＝35.0kV，电流I＝1mA，时间Δt＝15s，角步幅Δβ＝0.1°；按SENSOR键，设置角度为15°；按TARGET键，再按β键，设置下限角为7°，上限角为8.2°；按SCAN键开始测量，点击CASSYLab2软件中的时钟按钮，每测量0.1°均点击一次，测量结束后将数据粘贴到EXCEL文件中并保存文件；

(三)靶台和探测器转角修正值的获取

将探测器固定在15-16.3°之间，按上述步骤(二)重复进行测量，然后，在EXCEL中，建立纵向为间隔为0.1°的靶台角度值7°-8.2°，横向为间隔为0.1°的探测器角度值15°-16.3°的表格，将每一组角度中计数器每一道光子数求和得到总光子数，记录在表格中，做出100晶面的二维衍射曲线图，找出K_α线对应的第一级衍射峰对应的角度，并与衍射方式实验仪得到的角度进行对比，分别得到靶台误差值a°和探测器转角误差值b°，并以此误差值对130晶面进行角度修正；

(四)130晶面的修正

将NaCl单晶固定在靶台上，运行软件CASSYLab，设置X光管的高压U＝35.0kV，电流I＝1.00mA，角步幅Δβ＝0°；按TARGET键，设置角度为α+β′+a°；按SENSOR键，设置角度为2β′+b°；按HV(ON/OFF)加上高压，然后按F9开始测量衍射曲线，测量结束后，按HV(ON/OFF)关闭高压，并将数据保存在EXCEL空文件中，所述测量时间为100s。