[发明专利]一种可进行角度修正的晶体非切割晶面衍射曲线测量方法

说明书

本发明公开了一种可进行角度修正的晶体非切割晶面衍射曲线测量方法，其特点是晶体非切割晶面衍射曲线测量方法包括：利用X射线实验仪进行基本参数设置和测角零点的重新设置等步骤，晶体非切割晶面衍射曲线测量的角度修正采用多次扫描（100）晶面第一级衍射峰对应的角度，得到靶台和探测器转角的修正值。本发明与现有技术相比具有方法简便，实验精度高，能校正靶台和探测器的角度，使测量得到的能量谱的误差最小，有效解决了能量多道方式的X射线实验仪中默认模式无法测量晶体非切割晶面和无角度自动校正的问题。

技术领域

本发明涉及X射线实验技术领域，尤其涉及一种能量多道方式可进行角度修正的X射线对晶体非切割晶面衍射曲线测量方法。

背景技术

X射线衍射实验主要是利用两种X射线实验仪测量NaCl单晶切割晶面((100)面)的衍射曲线，一种为衍射方式的X射线实验仪，可以获得固定波长、角度变化的衍射谱来验证布拉格衍射公式(2dsinθ＝nλ)；另一种为能量多道方式的X射线实验仪，可以获得固定角度、波长变化的能量谱来验证布拉格衍射公式。但是如果想获得非切割晶面((1X0)面)的衍射曲线，X射线实验仪默认的测角零点无法进行测量，所以需要重新设置测角零点。并且能量多道方式的X射线实验仪相比于衍射方式的X射线实验仪无角度自动校正功能，这会使测量得到的能量谱有一定的误差，所以亟需一种角度修正方法对其进行修正。

现有技术的能量多道方式的X射线实验仪中默认模式无法测量晶体非切割晶面和无角度自动校正功能，影响测量精度。

发明内容

本发明的目的是提供一种可进行角度修正的晶体非切割晶面衍射曲线测量方法，利用X射线实验装置，将重新设置测角零点获得不同晶面的衍射级数，采用多次扫描获得一级衍射峰对应的角度，校正靶台和探测器的角度，使测量得到的能量谱误差最小，有效解决了能量多道方式的X射线实验仪中默认模式无法测量晶体非切割晶面和无角度自动校正的问题，方法简便，精度高，实验获得的误差有一定程度的提高。

本发明的目的是这样实现的：一种晶体非切割晶面衍射曲线测量方法，其特点是利用X射线实验仪按下述步骤对晶体非切割晶面衍射曲线进行测量：

(一)基本参数设置

将NaCl单晶固定在靶台上，运行软件CASSYLab，设置X光管的高压U＝35.0kV，电流I＝1.00mA，角步幅Δβ＝0°。

(二)测角零点的重新设置

按TARGET键，设置角度为α°，即重新设置测角零点使入射方向与非切割晶面重合，其中α为NaC1晶体1x0晶面与100晶面间的夹角。

(三)衍射曲线的测量

按COUPLED键，设置角度为α+β′°，即靶台与入射方向夹角为α+β′°，其中β′为衍射角；按SENSOR键，探测器与入射方向的夹角为2β′°；按HV(ON/OFF)加上高压，然后按F9开始测量衍射曲线，测量结束后，按HV(ON/OFF)关闭高压，并将数据保存在EXCEL空文件中，所述测量时间为100s。

所述探测器探测方向在靶台上方，且衍射角要大于晶面间的夹角，即β′＞α，则2β′＞α+β′。

所述靶台的旋转角度＜90°，即α+β′＜90°。

所述X射线实验仪最短波长λ＝35.42pm，即不同晶面的衍射级数有限。

一种可进行角度修正的晶体非切割晶面衍射曲线测量方法，其特点是包括以下步骤：

(一)100晶面第一级衍射极大