[发明专利]氧化镓晶体管及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910706502.9 申请日: 2019-07-31
公开(公告)号: CN110571274B 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 龙世兵;吴枫 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/24;H01L21/34
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 鄢功军
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明提供一种氧化镓晶体管及其制备方法,其中晶体管包括:氧化镓单晶材料,其一侧面开设有沟道;上电极,设置在氧化镓单晶材料的沟道顶上;P型掺杂层,设置在氧化镓单晶材料的沟道底上;栅介质层,设置于P型掺杂层之上;栅电极,设置于所述栅介质层之上;以及下电极,设置于氧化镓单晶材料的另一侧上。本发明的氧化镓晶体管充分利用氧化镓材料本身极宽的禁带宽度、高的理论击穿场强的性能来实现进一步提升MOSFET承载高压能力的目的。
搜索关键词: 氧化 晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种氧化镓晶体管,包括:/n氧化镓单晶材料,其一侧面开设有沟道;/n上电极,设置在氧化镓单晶材料的沟道顶上;/nP型掺杂层,设置在氧化镓单晶材料的沟道底上;/n栅介质层,设置于P型掺杂层之上;/n栅电极,设置于所述栅介质层之上;/n下电极,设置于氧化镓单晶材料的另一侧上。/n
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