[发明专利]一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统与方法

摘要

本发明提供一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统与方法，通过多个下位机控制对应测试设备同步执行对多个待测试雷达的测试动作，一个主机控制多个对应于各个暗箱的下位机同时运行，实现了一台电脑操控多个暗箱的并行测试，大幅度缩短测试时间、提高产品的测试效率、生产效率以及设备的自动化程度；通过设置与一套远场测试项目的最大需求尺寸相匹配的暗箱，将所有需求尺寸较大的测试项目集中到同一暗箱，优化了远场测试效果；通过将多个暗箱竖立组合排列，减少了设备占地面积、提高空间利用率；通过设置水平定位面板，可根据待测试雷达的类型而切换到不同频段的测试设备进行测试，实现了暗箱尺寸兼容、不同型号的产线兼容，减少了产线投入成本。

主权项

1.一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统，其特征在于，包括中央控制模块及与其独立电性连接的PLC上下料模组以及暗箱模组：所述中央控制模块，用于根据预设程序控制所述PLC上下料模组进行运输及上下料动作；所述PLC上下料模组，用于在所述中央控制模块的控制下输送多个待测试雷达同步到达所述暗箱模组的不同暗箱，执行所述多个待测试雷达的上料动作；所述中央控制模块，还用于根据所述预设程序在所述PLC上下料模组完成上料动作后，控制所述暗箱模组进行测试动作；所述暗箱模组，用于在所述中央控制模块的控制下同步执行对所述多个待测试雷达的测试动作，并向所述中央控制模块反馈测试结果；所述PLC上下料模组，还用于在所述暗箱模组执行一次并行测试后，在所述中央控制模块的控制下，执行对所述多个待测试雷达的下料动作，并输送所述多个待测试雷达同步到达下一个工位。