[发明专利]一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统与方法在审

专利信息
申请号: 201910665257.1 申请日: 2019-07-23
公开(公告)号: CN110389322A 公开(公告)日: 2019-10-29
发明(设计)人: 黄晓彬 申请(专利权)人: 惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40;G01R29/08
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 叶新平
地址: 516006 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 暗箱 兼容 测试 毫米波雷达 测试设备 测试系统 远场测试 产线 并行 雷达 空间利用率 下位机控制 并行测试 测试动作 测试项目 测试效率 电脑操控 生产效率 水平定位 同步执行 主机控制 组合排列 最大需求 下位机 频段 匹配 竖立 自动化 优化
【权利要求书】:

1.一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统,其特征在于,包括中央控制模块及与其独立电性连接的PLC上下料模组以及暗箱模组:

所述中央控制模块,用于根据预设程序控制所述PLC上下料模组进行运输及上下料动作;

所述PLC上下料模组,用于在所述中央控制模块的控制下输送多个待测试雷达同步到达所述暗箱模组的不同暗箱,执行所述多个待测试雷达的上料动作;

所述中央控制模块,还用于根据所述预设程序在所述PLC上下料模组完成上料动作后,控制所述暗箱模组进行测试动作;

所述暗箱模组,用于在所述中央控制模块的控制下同步执行对所述多个待测试雷达的测试动作,并向所述中央控制模块反馈测试结果;

所述PLC上下料模组,还用于在所述暗箱模组执行一次并行测试后,在所述中央控制模块的控制下,执行对所述多个待测试雷达的下料动作,并输送所述多个待测试雷达同步到达下一个工位。

2.如权利要求1所述的一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统,其特征在于:所述暗箱模组至少包括两个并列排布的暗箱,一个所述暗箱对应一个所述待测试雷达、一套测试项目、一套测试设备;

其中一个所述暗箱的尺寸与一套远场测试项目的最大需求尺寸相匹配;所述一套远场测试项目包括所有的远场测试项目。

3.如权利要求2所述的一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统,其特征在于:

所述中央控制模块包括对应于所述测试设备的下位机,以及连接所有下位机的主机,所述主机还连接所述PLC上下料模组;

所述下位机用于在所述主机的控制下同步执行对所述多个待测试雷达的测试动作,并向所述主机反馈测试结果。

4.如权利要求3所述的一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统,其特征在于,所述远场测试项目包括角度标定,对应的测试设备包括至少两个固定在水平定位板上不同位置的角反射器,对应于不同发射频率的所述待测试雷达;

当所述待测试毫米波雷达到达暗箱的检测工位时,相应的下位机控制所述水平定位面板上频率相对应的所述角反射器正对所述待测试雷达。

5.如权利要求3所述的一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统,其特征在于,一套近场测试项目包括射频测试,对应的测试设备至少包括:

与对应下位机电性连接的模拟器、与所述模拟器电性连接的射频开关,以及,至少两组固定在所述水平定位板上不同位置的射频天线,对应于不同发射频率的所述待测试雷达;

以及连接在每组所述射频天线与所述射频开关之间的变频器,对应于不同发射频率的所述待测试雷达;

当所述待测试毫米波雷达到达暗箱的检测工位时,相应的下位机控制所述水平定位面板上频率相对应的所述射频天线正对所述待测试雷达,以及控制所述射频开关切换连接到正对所述待测试雷达的变频器,驱动所述变频器工作。

6.如权利要求4或5所述的一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统,其特征在于;安装在所述暗箱上的所述水平定位面板上及所述暗箱的内壁上还固定有吸波材料;当所述待测试雷达到达暗箱的检测工位时,对应的下位机控制所述水平定位面板上的所述吸波材料正对所述待测试雷达,使得所述待测试雷达被所述吸波材料围绕,并控制所述测试设备不工作,所述待测试雷达执行虚警和底噪测试;所述吸波材料兼容0~100GHZ频率的电磁波。

7.如权利要求1所述的一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统,其特征在于:所述PLC上下料模组的运输及上下料动作通过电机传动的传送链或传送带执行,或者通过机械手执行;

所述多个待测试雷达为24GHz、77GHz或79GHz的毫米波雷达。

8.一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试方法,其特征在于,具体步骤如下:

S1、输送多个待测试雷达同步到达不同暗箱,执行所述多个待测试雷达的上料动作;

S2、所述不同暗箱同步执行对所述多个待测试雷达的测试动作,并记录测试结果;

S3、执行对所述多个待测试雷达的下料动作,并输送所述多个待测试雷达同步到达下一个工位。

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