[发明专利]确定耐久性降低的存储器控制器、存储器系统和操作方法在审
| 申请号： | 201910634753.0 | 申请日： | 2019-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN111192618A | 公开（公告）日： | 2020-05-22 |
| 发明（设计）人： | 吴银珠;李正浩;赵永进 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34;G11C29/42;G11C29/00;G06F12/02;G06F3/06 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邵亚丽 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了一种确定耐久性降低的存储器控制器、包括该存储器控制器的存储器系统、以及操作该存储器控制器的方法。存储器控制器包括：纠错码(ECC)电路，被配置为从存储器器件读取的数据中检测错误；耐久性确定电路，被配置为检查指示对存储器器件的写入操作的次数的第一计数值和基于从存储器器件读取的数据指示以下中的至少一个的第二计数值：存储器器件的第一存储器单元的数量，每个第一存储器单元具有错误，以及处于特定逻辑状态的存储器器件的第二存储器单元的数量，并且被配置为基于检查结果执行用于确定存储器器件的耐久性是否已经降低的第一确定操作。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 耐久性 降低 存储器 控制器 系统 操作方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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