[发明专利]一种高信杂比宽谱段双狭缝光谱仪在审

专利信息
申请号: 201910618873.1 申请日: 2019-07-10
公开(公告)号: CN110375851A 公开(公告)日: 2019-10-25
发明(设计)人: 侯佳;王跃明;何志平;舒嵘 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01J3/04 分类号: G01J3/04;G01J3/28
代理公司: 上海沪慧律师事务所 31311 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种高信杂比宽谱段双狭缝光谱仪,系统由双狭缝组件、准直自由曲面镜、曲面棱镜、成像自由曲面镜、分谱段折转镜、谱段一探测器和谱段二探测器组成。曲面棱镜在宽谱段内具有高的效率,折射率差色散分光具有高的信号光杂散光比例(信杂比),利用曲面棱镜加自由曲面镜实现物面处相互分离的双狭缝的分光成像于不同谱段的探测器焦面上。系统成像质量优良、结构简单,可以有效地解决光谱仪不同谱段信杂比和分辨率的矛盾。
搜索关键词: 自由曲面镜 光谱仪 曲面棱镜 宽谱段 探测器 狭缝 高信 分光成像 系统成像 狭缝组件 折射率差 信号光 有效地 杂散光 折转镜 分辨率 分光 色散 物面 准直 成像 矛盾
【主权项】:
1.一种高信杂比宽谱段双狭缝光谱仪,包括双狭缝组件(1)、准直自由曲面镜(2)、曲面棱镜(3)、成像自由曲面镜(4)、分谱段折转镜(5)、谱段一探测器(6)和谱段二探测器(7),其特征在于:地物目标反射的光线经过双狭缝组件(1)入射到准直自由曲面镜(2),而后经准直自由曲面镜(2)反射至曲面棱镜(3)的前表面透射,在曲面棱镜(3)的后表面内反射,再次透射经过曲面棱镜(3)的前表面后在成像自由曲面镜(4)上反射聚焦。其中,经双狭缝组件(1)下方狭缝入射的光经分谱段折转镜(5)反射至谱段一探测器(6)接收,经双狭缝组件(1)上方狭缝入射的光直接入射至谱段二探测器(7)探测接收。
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