[发明专利]一种高信杂比宽谱段双狭缝光谱仪在审
| 申请号： | 201910618873.1 | 申请日： | 2019-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN110375851A | 公开（公告）日： | 2019-10-25 |
| 发明（设计）人： | 侯佳;王跃明;何志平;舒嵘 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01J3/04 | 分类号： | G01J3/04;G01J3/28 |
| 代理公司： | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人： | 郭英 |
| 地址： | 200083 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 自由曲面镜 光谱仪 曲面棱镜 宽谱段 探测器 狭缝 高信 分光成像 系统成像 狭缝组件 折射率差 信号光 有效地 杂散光 折转镜 分辨率 分光 色散 物面 准直 成像 矛盾 | ||
【权利要求书】：
1.一种高信杂比宽谱段双狭缝光谱仪，包括双狭缝组件(1)、准直自由曲面镜(2)、曲面棱镜(3)、成像自由曲面镜(4)、分谱段折转镜(5)、谱段一探测器(6)和谱段二探测器(7)，其特征在于：
地物目标反射的光线经过双狭缝组件(1)入射到准直自由曲面镜(2)，而后经准直自由曲面镜(2)反射至曲面棱镜(3)的前表面透射，在曲面棱镜(3)的后表面内反射，再次透射经过曲面棱镜(3)的前表面后在成像自由曲面镜(4)上反射聚焦。其中，经双狭缝组件(1)下方狭缝入射的光经分谱段折转镜(5)反射至谱段一探测器(6)接收，经双狭缝组件(1)上方狭缝入射的光直接入射至谱段二探测器(7)探测接收。
2.根据权利要求1所述的一种高信杂比宽谱段双狭缝光谱仪，其特征在于：所述的双狭缝组件(1)包含平行且相离一定距离的两条狭缝，根据不同的使用波段和不同的分辨率要求可以设置成不同的缝宽。
3.根据权利要求1所述的一种高信杂比宽谱段双狭缝光谱仪，其特征在于：所述的准直自由曲面镜(2)和成像自由曲面镜(4)为不具旋转对称，但为关于两狭缝的中心连线轴对称的光学表面。
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