[发明专利]电容外观的检测方法及装置、存储介质和处理器有效
| 申请号： | 201910601487.1 | 申请日： | 2019-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN110333240B | 公开（公告）日： | 2022-01-07 |
| 发明（设计）人： | 杨智慧;宋明岑;朱虹 | 申请（专利权）人： | 珠海格力智能装备有限公司;珠海格力电器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/956 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 周春枚 |
| 地址： | 519015 广东省珠海市九洲大道中*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种电容外观的检测方法及装置、存储介质和处理器。该方法包括：获取电容外观的目标图像，其中，目标图像为多个图像，多个图像中至少包括电容的顶部图像、侧面图像、电容的外壳图像和电容端子的图像；将目标图像分割成至少一个检测区域；通过至少一个检测区域对目标图像中电容外观的缺陷进行检测，其中，电容外观的缺陷包括以下至少之一：电容的顶部的缺陷、电容的侧面的缺陷、电容端子的缺陷和电容的外壳的缺陷。通过本申请，解决了相关技术中对电容外观的检测不全面，还需人工二次检测，导致对电容外观的检测效率不高的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 电容 外观 检测 方法 装置 存储 介质 处理器 | ||
【主权项】：
1.一种电容外观的检测方法，其特征在于，包括：获取所述电容外观的目标图像，其中，所述目标图像为多个图像，所述多个图像中至少包括所述电容的顶部图像、侧面图像、所述电容的外壳图像和电容端子的图像；将所述目标图像分割成至少一个检测区域；通过所述至少一个检测区域对所述目标图像中所述电容外观的缺陷进行检测，其中，所述电容外观的缺陷包括以下至少之一：所述电容的顶部的缺陷、所述电容的侧面的缺陷、所述电容端子的缺陷和所述电容的外壳的缺陷。
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