[发明专利]电容外观的检测方法及装置、存储介质和处理器

权利要求书

1.一种电容外观的检测方法，其特征在于，包括：

获取所述电容外观的目标图像，其中，所述目标图像为多个图像，所述多个图像中至少包括所述电容的顶部图像、侧面图像、所述电容的外壳图像和电容端子的图像；

将所述目标图像中的每个图像分割成至少一个检测区域；

通过所述至少一个检测区域对所述目标图像中所述电容外观的缺陷进行检测，其中，所述电容外观的缺陷至少包括以下缺陷：所述电容的顶部的缺陷、所述电容的侧面的缺陷、所述电容端子的缺陷和所述电容的外壳的缺陷；

在获取所述电容外观的目标图像之前，所述方法还包括：对待检测的电容进行定位，并获取第一图像和第二图像，其中，所述第一图像是所述电容的顶部图像，所述第二图像是所述电容的侧面图像；依据所述第一图像，创建定位模板，其中，所述定位模板用于获取所述电容的定位角度；依据所述第二图像，创建字符模板和套管模板，其中，所述字符模板用于检测所述电容上印制的字符是否合格，所述套管模板用于检测所述电容的套管是否合格；

依据所述第二图像，创建字符模板和套管模板之后，所述方法还包括：分割所述侧面图像，获取第七检测区域和第八检测区域，其中，所述第七检测区域为混料检测区域，所述第八检测区域为套管检测区域；利用所述字符模板匹配所述第七检测区域，如果匹配失败，则确定混料方向异常，如果匹配成功，则确定混料方向正常；利用所述套管模板匹配所述第八检测区域，如果匹配成功，则获取匹配角度，如果所述匹配角度为180度，则确定电容套管反向，如果所述匹配角度为0度，则确定电容套管正向；

所述方法还包括：分割所述侧面图像之后，获取第九检测区域；通过乘积方法增强所述第九检测区域，并分割出所述第九检测区域内的单个字符；若分割失败，则确定所述电容的侧面存在喷码缺陷；若分割成功，提取分割出的首尾字符，并根据所述首尾字符获取最小外接矩形的长度、宽度和角度；若所述长度大于第一长度预设值且小于第二长度预设值，则确定电容的喷码存在字符缺陷；若所述宽度大于宽度预设值，则确定所述电容存在二次喷码的缺陷；若所述角度大于角度预设值，则确定所述电容存在喷码歪斜的缺陷；

依据所述第一图像，创建定位模板之后，所述方法包括：确定第一检测区域，其中，所述第一检测区域为所述电容的顶部图像所处的检测区域；利用所述定位模板对所述第一检测区域进行匹配，获取定位角度；控制所述电容旋转所述定位角度，并获取所述电容的第三图像；利用所述定位模板对所述第三图像进行匹配，获取第一坐标值和第二坐标值，其中，所述第一坐标值为所述第三图像中电容的负极图标的坐标值，所述第二坐标值为所述第三图像中电容的负极端子的坐标值；

控制所述电容旋转所述定位角度，并获取所述电容的第三图像之后，所述方法还包括：依据所述第三图像，获取所述电容的图像的外圆中心；依据所述外圆中心，对所述第三图像进行分割，获取第四检测区域，其中，所述第四检测区域是所述电容的露白检测区域；提取所述第四检测区域的边缘，并将所述边缘拟合出圆形；提取所述圆形的特征，并依据所述圆形的特征确定所述圆形的圆形度和所述圆形的半径；如果所述圆形的圆形度小于圆形的圆形度预设值，或者，所述圆形的半径小于圆形的半径预设值，则判定所述电容的顶部包装存在缺陷；

在获取所述电容外观的目标图像之后，所述方法还包括：对所述电容端子的图像进行分割，获取第五检测区域，其中，所述第五检测区域为所述电容端子的正面区域；对所述第五检测区域进行处理，以去除所述第五检测区域的噪声干扰；采用动态阈值分割方法分割处理过的所述第五检测区域，并提取连通区域；如果存在所述连通区域，则计算所述连通区域的面积；若所述连通区域的面积大于预设面积，则确定所述电容端子存在打焦缺陷；若所述连通区域的面积小于所述预设面积，则确定所述电容端子不存在打焦缺陷；

获取所述电容外观的目标图像之后，所述方法还包括：分割第一外壳图像和第二外壳图像，并获取第十检测区域和第十一检测区域，其中，所述第一外壳图像和所述第二外壳图像都是所述电容的外壳图像，所述第十检测区域为所述第一外壳图像的上部区域，所述第十一检测区域为所述第二外壳图像的上部区域；将所述第一外壳图像中所述第十检测区域内的亮度小于亮度阈值的区域作为第一区域；将所述第二外壳图像中所述第十一检测区域内的亮度小于所述亮度阈值的区域作为第二区域；对比所述第一区域与所述第二区域，并获取差异区域值；如果所述差异区域值大于预设差异区域值，则确定所述电容外壳的上部区域存在凹凸缺陷；

分割所述电容外壳的图像之后，所述方法还包括：获取第十二检测区域，其中，所述第十二检测区域为所述电容外壳的图像的中间区域；将所述第十二检测区域内的亮度小于所述亮度阈值的区域作为第三区域；将所述第三区域的最大内接矩形区域作为第四区域；将所述第三区域和所述第四区域的差异区域作为第五区域；获取所述第五区域的面积；若所述第五区域的面积为零，则确定所述电容外壳的中部区域不存在凹凸的缺陷；

分割第一外壳图像和第二外壳图像之后，所述方法还包括：获取第十三检测区域，其中，所述第十三检测区域为所述电容外壳的图像的下部区域；将所述第十三检测区域内的亮度大于所述亮度阈值的区域作为第六区域；对所述第六区域做形态学开运算，并获取第七区域；对所述第六区域做形态学闭运算，并获取第八区域；将所述第七区域与所述第六区域进行比较，获得第九区域；将所述第八区域与所述第六区域进行比较，获得第十区域；计算所述第九区域与所述第十区域的面积；若所述第九区域的面积与所述第十区域的面积均不为零，则确定所述电容外壳的下部区域存在所述凹凸缺陷。