[发明专利]磁共振图像校正方法、装置、存储介质及设备有效

专利信息
申请号: 201910553990.4 申请日: 2019-06-25
公开(公告)号: CN110298901B 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: 马丽娟;刘波;冯莹莹 申请(专利权)人: 沈阳东软智能医疗科技研究院有限公司
主分类号: G06T11/00 分类号: G06T11/00;G06T5/00;G06T7/62;G06T7/70
代理公司: 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 代理人: 靳玫
地址: 110179 辽宁省沈*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 本申请公开了一种磁共振图像校正方法、装置、存储介质及设备。该方法包括:根据多张断层图像获得多张脑组织掩膜图像;根据设定的圆形率阈值、面积阈值以及离心率阈值,从多张脑组织掩膜图像中选取候选层图像;获得每个候选层图像中脑组织掩膜的倾斜角,并计算所有候选层图像的平均倾斜角;计算每个候选层图像的第一质心,并根据第一质心确定各张断层图像的第二质心;根据平均倾斜角对每张断层图像进行角度校正,并根据第二质心对每张断层图像进行上下偏移校正。结合三种特征选取候选层图像,通过各个候选层图像的倾斜角获得用于校正断层图像的角度,并利用各断层图像质心对断层图像进行上下偏移校正,校正准确度高、自动化程度高,并且兼容性强。
搜索关键词: 磁共振 图像 校正 方法 装置 存储 介质 设备
【主权项】:
1.一种磁共振图像校正方法,其特征在于,包括:获得磁共振成像的多张断层图像,并根据所述多张断层图像获得多张脑组织掩膜图像;根据设定的圆形率阈值、面积阈值以及离心率阈值,从所述多张脑组织掩膜图像中选取候选层图像;获得每个候选层图像中脑组织掩膜的倾斜角,并确定所有候选层图像的平均倾斜角;确定每个候选层图像的第一质心,并根据所述第一质心确定各张断层图像的第二质心;根据所述平均倾斜角对每张断层图像进行角度校正,并根据所述第二质心对每张断层图像进行上下偏移校正。
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