[发明专利]半导体加工装置及相关磁控溅射装置在审

专利信息
申请号: 201910503297.6 申请日: 2019-06-11
公开(公告)号: CN112063979A 公开(公告)日: 2020-12-11
发明(设计)人: 武学伟 申请(专利权)人: 北京北方华创微电子装备有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/54;H01L51/56
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 沈锦华
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种半导体加工装置,所述半导体加工装置包括腔室、置于所述腔室内的多根支柱以及用于支撑所述多根支柱的基座,所述多根支柱用于承载工作件,所述半导体加工装置包括检测装置,所述检测装置耦接至所述多根支柱中的至少两根支柱,通过对所述至少两根支柱中任意两根支柱进行侦测,来判断所述工作件的状态。以及一种相关磁控溅射装置。解决了现有技术不能实时检测工作件(如托盘)的状态所产生的问题。
搜索关键词: 半导体 加工 装置 相关 磁控溅射
【主权项】:
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