[发明专利]磁检测装置有效

专利信息
申请号: 201910480815.7 申请日: 2019-06-04
公开(公告)号: CN110579728B 公开(公告)日: 2022-07-12
发明(设计)人: 高野研一;平林启;斋藤祐太 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: G01R33/09 分类号: G01R33/09;H01L43/08
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 杨琦
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的磁检测装置具备:第一磁检测元件,具有第一电阻值,第一电阻值因施加第一方向的第一磁场而增大且因施加第二方向的第二磁场而减小;以及第二磁检测元件,具有第二电阻值,第二电阻值因施加第一磁场而减小且因施加第二磁场而增大。第一磁检测元件和第二磁检测元件均包括第一磁阻效应膜和第二磁阻效应膜,第一磁阻效应膜具有第一长轴方向,第一长轴方向相对于第一方向以第一倾斜角度倾斜;第二磁阻效应膜与第一磁阻效应膜串联且具有第二长轴方向,第二长轴方向相对于第一方向以第二倾斜角度倾斜。而且,该磁检测装置满足条件表达式(1)和条件表达式(2)。
搜索关键词: 检测 装置
【主权项】:
1.一种磁检测装置,具备:/n第一磁检测元件,具有第一电阻值,所述第一电阻值因施加第一方向的第一磁场而增大且因施加与所述第一方向相反的第二方向的第二磁场而减小;以及/n第二磁检测元件,具有第二电阻值,所述第二电阻值因施加所述第一磁场而减小且因施加所述第二磁场而增大,/n所述第一磁检测元件和所述第二磁检测元件均包括第一磁阻效应膜和第二磁阻效应膜,所述第一磁阻效应膜具有第一长轴方向,所述第一长轴方向相对于所述第一方向以第一倾斜角度倾斜;所述第二磁阻效应膜与所述第一磁阻效应膜串联且具有第二长轴方向,所述第二长轴方向相对于所述第一方向以第二倾斜角度倾斜,/n所述磁检测装置满足下列条件表达式(1)和条件表达式(2),/n0°<θ1<90°……(1)/n-90°<θ2<0°……(2)/n其中,/nθ1:第一长轴方向相对于第一方向的第一倾斜角度;/nθ2:第二长轴方向相对于第一方向的第二倾斜角度。/n
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