[发明专利]一种闪存器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201910394766.5 申请日: 2019-05-13
公开(公告)号: CN110047943B 公开(公告)日: 2022-12-20
发明(设计)人: 罗清威;李赟;周俊 申请(专利权)人: 武汉新芯集成电路制造有限公司
主分类号: H01L29/788 分类号: H01L29/788;H01L21/336;H01L27/11521
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 党丽;王宝筠
地址: 430205 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供了一种闪存器件的制造方法,衬底上形成有浮栅层以及浮栅层上的图案化的栅堆叠层,栅堆叠层包括依次层叠的隔离层和控制栅,栅堆叠层一侧为擦除栅区,另一侧为字线区,在栅堆叠层的侧壁上可以形成侧墙,沿横向去除字线区的部分厚度的侧墙,使字线区的侧墙和擦除栅区的侧墙厚度不一致,以侧墙及栅堆叠层为掩蔽,进行浮栅层的刻蚀,以形成浮栅,沿横向去除擦除栅区部分厚度的侧墙,这样,得到的浮栅层在擦除栅区保留较多且伸出侧墙一部分,从而得到非对称结构的浮栅层,简化形成浮栅的工艺流程,降低器件的制造成本。
搜索关键词: 一种 闪存 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种闪存器件的制造方法,其特征在于,包括:提供衬底,所述衬底上形成有浮栅层,所述浮栅层上形成有图案化的栅堆叠层,所述栅堆叠层包括依次层叠的隔离层和控制栅,所述栅堆叠层一侧为擦除栅区、另一侧为字线区;在所述栅堆叠层的侧壁上形成侧墙;沿横向去除所述字线区部分厚度的侧墙;以侧墙及所述栅堆叠层为掩蔽,进行所述浮栅层的刻蚀,以形成浮栅;沿横向去除所述擦除栅区部分厚度的侧墙。
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