[发明专利]一种光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法有效
申请号: | 201910347908.2 | 申请日: | 2019-04-28 |
公开(公告)号: | CN110095263B | 公开(公告)日: | 2020-09-01 |
发明(设计)人: | 黄永刚;王云;赵冉;石攀;贾金升 | 申请(专利权)人: | 中国建筑材料科学研究总院有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 | 代理人: | 王伟锋;刘铁生 |
地址: | 100024*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明是关于一种光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法,其包括:S1、在测量模板两侧分别设置光源和待测光纤传像元件,使待测光纤传像元件的第一表面与测量模板紧密贴合;S2、在避光环境内,光源射出的光线依次经测量模板和待测光纤传像元件后,使测量模板上的第一区域和第二区域在待测光纤传像元件的第二表面形成图像;S3、采集所述图像,进行处理,得到所述图像上对应每个像素点的灰度值;S4、对所述灰度值进行归一化处理,得到任一位置点的归一化透过率值,并用得到的归一化透过率值来表征光纤传像元件上任一位置点的杂光串扰性能。本发明方法能够直接反映被测产品的杂光串扰性能,有效提高检测结果的准确性和重复性。 | ||
搜索关键词: | 一种 光纤 元件 间光串扰 性能 表征 方法 | ||
【主权项】:
1.一种光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法,其特征在于,包括:S1、在测量模板两侧分别设置光源和待测光纤传像元件,使所述待测光纤传像元件的第一表面与所述测量模板紧密贴合;所述测量模板由第一区域和第二区域组成;所述第一区域的透过率小于所述第二区域的透过率,两者的透过率之差大于90%;S2、在避光环境内,所述光源射出的光线依次经所述测量模板和所述待测光纤传像元件后,使所述测量模板上与所述待测光纤传像元件重合的第一区域和第二区域在所述待测光纤传像元件的第二表面形成图像;所述第二表面为所述待测光纤传像元件的与所述第一表面相背的表面;S3、采集所述的图像,对所述图像进行处理,得到所述图像上对应每个像素点的灰度值;S4、对所述灰度值进行归一化处理,得到任一位置点的归一化透过率值,并用得到的归一化透过率值来表征光纤传像元件上任一位置点的杂光串扰性能。
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