[发明专利]一种光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法

说明书

本发明是关于一种光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法，其包括：S1、在测量模板两侧分别设置光源和待测光纤传像元件，使待测光纤传像元件的第一表面与测量模板紧密贴合；S2、在避光环境内，光源射出的光线依次经测量模板和待测光纤传像元件后，使测量模板上的第一区域和第二区域在待测光纤传像元件的第二表面形成图像；S3、采集所述图像，进行处理，得到所述图像上对应每个像素点的灰度值；S4、对所述灰度值进行归一化处理，得到任一位置点的归一化透过率值，并用得到的归一化透过率值来表征光纤传像元件上任一位置点的杂光串扰性能。本发明方法能够直接反映被测产品的杂光串扰性能，有效提高检测结果的准确性和重复性。

技术领域

本发明属于光纤传像材料性能检测技术领域，特别是涉及一种光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法。

背景技术

当前，超二代和三代微光夜视技术向4G技术发展，要求光谱响应波长向长波和短波方向延伸、成像质量因子超过1800、高于57lp/mm的成像分辨率和更高的成像分辨力。光纤间的杂光串扰是恶化成像清晰度，降低对比度的主要因素。如何表征光纤传像元件中杂光串扰性能就成为一个重要的问题。

目前与光串扰性能评价相关的表征方法是刀口响应值，通过测量光线经光纤传像材料透过刀口的光亮度。该方法仍是目前国内光纤传像元件制造者普遍采用的表征光串扰性能的指标。对于杂光串扰性能的表征，国内外还没有统一标准。用刀口响应值表征光串扰性能从检测的角度来看存在三个明显的不足：一是测量值不准确，测试条件与实际使用环境不一致，制样复杂且制样对测量结果影响较大，从而导致检测结果的稳定性或者说可靠性存在问题，往往一个样品的刀口响应值多次检测量的结果存在较大的差异，最大偏差可超到50％。其二是该方法不具有普适性。对于光纤传像元件在测试厚度上有范围要求，不能直接检测高于一定厚度的产品。这样，无论是光纤直板、光纤倒像器和光纤光锥产品，都是一种间接的测试表征，只能对被测产品的部分区域进行测试，且切片位置往往不能代表整个被测产品的整体光串扰性能。其三是目前这种刀口响应测量设备在国内也仅有一台，测试精度随设备老化严重降低，也有逐渐被淘汰的趋势。因此，发明一种新的杂光串扰性能的表征方法是非常紧迫和必要。

发明内容

本发明提供一种光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法，其目的是发明一种稳定可靠、简单易操作、直接表征杂光串扰性能的方法。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法，其包括：

S1、在测量模板两侧分别设置光源和待测光纤传像元件，使所述待测光纤传像元件的第一表面与所述测量模板紧密贴合；

所述测量模板由第一区域和第二区域组成；所述第一区域的透过率小于所述第二区域的透过率，两者的透过率之差大于90％；

S2、在避光环境内，所述光源射出的光线依次经所述测量模板和所述待测光纤传像元件后，使所述测量模板上与所述待测光纤传像元件重合的第一区域和第二区域在所述待测光纤传像元件的第二表面形成图像；所述第二表面为所述待测光纤传像元件的与所述第一表面相背的表面；

S3、采集所述的图像，对所述图像进行处理，得到所述图像上对应每个像素点的灰度值；

S4、对所述灰度值进行归一化处理，得到任一位置点的归一化透过率值，并用得到的归一化透过率值来表征光纤传像元件上任一位置点的杂光串扰性能。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

优选的，前述的光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法，其中在步骤S2中，所述的使所述测量模板上与所述待测光纤传像元件重合的第一区域和第二区域在所述待测光纤传像元件的第二表面形成图像，具体包括：