[发明专利]一种光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法有效

专利信息
申请号: 201910347908.2 申请日: 2019-04-28
公开(公告)号: CN110095263B 公开(公告)日: 2020-09-01
发明(设计)人: 黄永刚;王云;赵冉;石攀;贾金升 申请(专利权)人: 中国建筑材料科学研究总院有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 代理人: 王伟锋;刘铁生
地址: 100024*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 光纤 元件 间光串扰 性能 表征 方法
【权利要求书】:

1.一种光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法,其特征在于,包括:

S1、在测量模板两侧分别设置光源和待测光纤传像元件,使所述待测光纤传像元件的第一表面与所述测量模板紧密贴合;

所述测量模板由第一区域和第二区域组成;所述第一区域的透过率小于所述第二区域的透过率,两者的透过率之差大于90%;

S2、在避光环境内,所述光源射出的光线依次经所述测量模板和所述待测光纤传像元件后,使所述测量模板上与所述待测光纤传像元件重合的第一区域和第二区域在所述待测光纤传像元件的第二表面形成图像;

所述第二表面为所述待测光纤传像元件的与所述第一表面相背的表面;

S3、采集所述的图像,对所述图像进行处理,得到所述图像上对应每个像素点的灰度值;

S4、对所述灰度值进行归一化处理,得到任一位置点的归一化透过率值,并用得到的归一化透过率值来表征光纤传像元件上任一位置点的杂光串扰性能。

2.根据权利要求1所述的光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法,其特征在于,在步骤S2中,所述的使所述测量模板上与所述待测光纤传像元件重合的第一区域和第二区域在所述待测光纤传像元件的第二表面形成图像,包括:

选取所述待测光纤传像元件的第二表面上的任一点作为测量点,移动所述待测光纤传像元件或所述测量模板,使所述测量点位于所述第一区域和所述第二区域的交界线上,在所述待测光纤传像元件的第二表面上得到相应的第一图像和第二图像,其中所述第一图像与所述第一区域对应,所述第二图像与所述第二区域对应。

3.根据权利要求2所述的光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法,其特征在于,在步骤S4中,所述归一化处理包括:

选取包含所述测量点的测量范围,计算出所述测量范围内与所述交界线的平行方向上的平均灰度值,然后选择其中的最大平均灰度值和最小平均灰度值,进行归一化计算,得到所述测量范围内任一位置点的归一化透过率值;

所述测量范围由所述第一图像的部分区域和所述第二图像的部分区域组成。

4.根据权利要求3所述的光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法,其特征在于,所述测量范围为以所述测量点为圆心的圆形;或,

所述测量范围为以所述交界线为中心线的方形。

5.根据权利要求2所述的光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法,其特征在于,使所述测量点与所述测量模板上的所述第一区域和所述第二区域的交界线的中点重合。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法,其特征在于,在步骤S4中,所述用得到的归一化透过率值来表征光纤传像元件上所述测量点的杂光串扰性能,包括:

通过所述归一化透过率值随位移量的变化来表征光纤传像元件上所述测量点的杂光串扰性能,当所述位移量在第一区域的归一化透过率值越小或在所述第二区域的归一化透过率值越大时,其杂光串扰性能就越强,反之,则越弱;其中,所述位移量为像素点数量×像元大小。

7.根据权利要求1所述的光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法,其特征在于,所述第一区域的透过率2%,所述第二区域的透过率95%。

8.根据权利要求1所述的光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法,其特征在于,对所述光源射出的光线进行屏蔽处理,只保留射到所述待测光纤传像元件上的光线。

9.根据权利要求1所述的光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法,其特征在于,在光线射到所述测量模板上之前,对所述光源射出的光线进行滤光;和/或,在光线射到所述测量模板上之前,对所述光源射出的光线进行处理,使射到所述测量模板上的光线为漫射光线。

10.根据权利要求2所述的光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法,其特征在于,使所述光源的中心点、所述交界线的中点、所述待测光纤传像元件上的测量点在同一条直线上;并且采集所述图像用的图像采集机构的轴线与所述直线重合。

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