[发明专利]对象物判定装置、程序、对象物判定方法和半导体装置在审
| 申请号： | 201910316894.8 | 申请日： | 2019-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN110412075A | 公开（公告）日： | 2019-11-05 |
| 发明（设计）人： | 赤堀博次 | 申请（专利权）人： | 拉碧斯半导体株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 王岳;闫小龙 |
| 地址： | 日本神奈*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及对象物判定装置、程序、对象物判定方法和半导体装置。在不接收示出第一信号和第二信号的发送的定时的信号的情况下判定对象物的性质。根据由电极202经由土以重叠的状态接收到的频率f1、f2的第一正弦波信号和第二正弦波信号，求取与各个的振幅对应的功率值的差ΔP1（或ΔP2）和与相位对应的角度的差Δθ1（或Δθ2），基于求取的功率差和角度差以及功率差和角度差与土的多个性质L1、L2的关系来判定土的性质L1。 | ||
| 搜索关键词： | 对象物 判定 半导体装置 正弦波信号 判定装置 功率差 角度差 第二信号 状态接收 电极 发送 | ||
【主权项】：
1.一种对象物判定装置，其中，具备：计算部，根据由接收部经由对象物以重叠的状态或分别接收到的、第一频率的第一信号和与所述第一频率不同的第二频率的第二信号，计算表示所述第一信号和所述第二信号的各自的特征的、第一特征量和与所述第一特征量不同的第二特征量；以及判定部，基于所述第一信号和所述第二信号的各自的所述第一特征量的不同和所述第二特征量的不同、及所述第一特征量的多个不同和所述第二特征量的多个不同与对象物的多个性质的关系，判定所述对象物的性质。
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