[发明专利]对象物判定装置、程序、对象物判定方法和半导体装置

权利要求书

1.一种对象物判定装置，其中，具备：

计算部，根据由接收部经由对象物以重叠的状态或分别接收到的、第一频率的第一信号和与所述第一频率不同的第二频率的第二信号，计算表示所述第一信号和所述第二信号的各自的特征的、第一特征量和与所述第一特征量不同的第二特征量；以及

判定部，基于所述第一信号和所述第二信号的各自的所述第一特征量的不同和所述第二特征量的不同、及所述第一特征量的多个不同和所述第二特征量的多个不同与对象物的多个性质的关系，判定所述对象物的性质。

2.根据权利要求1所述的对象物判定装置，其特征在于，所述第一特征量的不同和所述第二特征量的不同是差。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的对象物判定装置，其中，

所述第一特征量是所述第一信号和所述第二信号的振幅或与振幅相关联的物理量，

所述第二特征量是所述第一信号和所述第二信号的相位或与相位相关联的物理量。

4.根据权利要求1~权利要求3的任一项所述的对象物判定装置，其中，

所述计算部根据在多个第一期间的各个内接收到的所述第一信号和所述第二信号的各个来计算所计算出的所述第一特征量的平均值和所述第二特征量的平均值，或者，

所述计算部将所述多个第一期间的整体作为第二期间，根据在所述第二期间内接收到的所述第一信号和所述第二信号的各个来计算所述第一特征量的平均值和所述第二特征量。

5.一种对象物判定方法，其中，具备：

根据由接收部经由对象物以重叠的状态或分别接收到的、第一频率的第一信号和与所述第一频率不同的第二频率的第二信号来计算表示所述第一信号和所述第二信号的各自的特征的、第一特征量和与所述第一特征量不同的第二特征量的步骤；以及

基于所述第一信号和所述第二信号的各自的所述第一特征量的不同和所述第二特征量的不同、及所述第一特征量的多个不同和所述第二特征量的多个不同与对象物的多个性质的关系来判定所述对象物的性质的步骤。

6.一种程序，其中，用于使计算机执行根据权利要求5所述的对象物判定方法。

7.一种对象物判定装置，其中，具备：

存储装置，存储有用于使处理装置执行根据权利要求5所述的对象物判定方法的程序；以及

处理装置，执行在所述存储装置中存储的所述程序。

8.一种半导体装置，其中，具备：

计算部，根据由接收部经由对象物以重叠的状态或分别接收到的、第一频率的第一信号和与所述第一频率不同的第二频率的第二信号，计算表示所述第一信号和所述第二信号的各自的特征的、第一特征量和与所述第一特征量不同的第二特征量；以及

判定部，基于所述第一信号和所述第二信号的各自的所述第一特征量的不同和所述第二特征量的不同、及所述第一特征量的多个不同和所述第二特征量的多个不同与对象物的多个性质的关系，判定所述对象物的性质。