[发明专利]一种基于多点测量反馈的舱外支架加工工艺方法在审
| 申请号: | 201910271689.4 | 申请日: | 2019-04-04 |
| 公开(公告)号: | CN110006341A | 公开(公告)日: | 2019-07-12 |
| 发明(设计)人: | 仉恒毅;张霞;王天明;刘汉良;高立国;张斌;陈少君;张佳朋 | 申请(专利权)人: | 北京卫星制造厂有限公司 |
| 主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/24 |
| 代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 李晶尧 |
| 地址: | 100190*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 一种基于多点测量反馈的舱外支架加工工艺方法,涉及大型舱体结构舱外支架定位加工领域;包括如下步骤:步骤一、在待加工支架的待加工面上粘贴4个靶标;步骤二、激光跟踪仪扫描测量得到待加工面相对于被测舱的空间位置;得到4个靶标相对于待加工面坐标系oxyz的坐标;步骤三、获得对待加工面进行加工的加工量;步骤四、以4个靶标相对于待加工面坐标系oxyz的坐标为基准,对待加工面进行加工,去除步骤五中确定的加工量;步骤五、将加工后的支架复位至被测舱侧壁上,采用激光跟踪仪对复位后支架与标准位置对比进行校准检测;本发明实现了对大型舱体外部支架在焊接装配过程中不可避免的产生积累误差的修正,满足了的支架的安装精度要求。 | ||
| 搜索关键词: | 支架 加工 外支架 靶标 激光跟踪仪 大型舱体 待加工面 多点测量 加工量 加工面 复位 焊接装配过程 标准位置 定位加工 积累误差 精度要求 空间位置 扫描测量 校准检测 反馈 后支架 结构舱 侧壁 去除 粘贴 修正 外部 | ||
【主权项】:
1.一种基于多点测量反馈的舱外支架加工工艺方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤一、将被测舱(1)轴向竖直放置在地面上;被测舱(1)的外壁安装有待加工支架(2);将激光跟踪仪(3)对准待加工支架(2)放置在被测舱(1)外的地面上;步骤二、在待加工支架(2)的待加工面(21)上粘贴4个靶标(4);步骤三、激光跟踪仪(3)扫描测量4个靶标(4)的共面度,当共面度满足要求进入步骤四;当共面度不满足要求,微调靶标(4)位置,直至满足要求;步骤四、激光跟踪仪(3)对被测舱(1)、待加工面(21)和4个靶标(4)进行扫描测量;得到待加工面(21)相对于被测舱(1)的空间位置;建立待加工面坐标系oxyz,得到4个靶标(4)相对于待加工面坐标系oxyz的坐标;步骤五、将步骤四中待加工面(21)相对于被测舱(1)的空间位置与已知加工后支架加工面相对于被测舱(1)的空间标准位置对比,获得对待加工面(21)进行加工的加工量;步骤六、从被测舱(1)外壁上拆除待加工支架(2),以4个靶标(4)相对于待加工面坐标系oxyz的坐标为基准,对待加工面(21)进行加工,去除步骤五中确定的加工量;步骤七、将加工后的支架复位至被测舱(1)侧壁上,采用激光跟踪仪(3)对复位后支架与标准位置对比进行校准检测;步骤八、当检测结果满足要求,加工结束;当检测结果不满足要求,重复步骤四至步骤七,直至满足要求。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京卫星制造厂有限公司,未经北京卫星制造厂有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910271689.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种物体尺寸测量方法和电子设备
- 下一篇:一种零件定位装置及零件定位方法





