[发明专利]用于电子设备的盖和制造方法有效
| 申请号： | 201910244522.9 | 申请日： | 2019-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN110323316B | 公开（公告）日： | 2023-01-06 |
| 发明（设计）人： | R·科菲 | 申请（专利权）人： | 意法半导体（格勒诺布尔2）公司 |
| 主分类号： | H01L33/48 | 分类号： | H01L33/48;H01L33/58;H01L33/62 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华;郭星 |
| 地址： | 法国格*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开的实施例涉及用于电子设备的盖和制造方法。用于电子设备的盖包括具有直通通道的支撑体。允许光通过的光学元件被安装在支撑体上，位于延伸穿过直通通道的位置中。光学元件的表面包括被配置作为安全检测元件的导电轨道。至少两根电气连接导线被刚性地附接至支撑体并且包括第一未遮盖部分，第一未遮盖部分在支撑体的内部并且被电气连接至导电轨道上的间隔开的位置。至少两根电气连接导线还包括在支撑体外部的第二未遮盖部分。盖被安装在携带有电子芯片的支撑板上，电子芯片位于直通通道中与光学元件相隔一定距离。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电子设备 制造 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于电子设备的盖，包括：具有直通通道的支撑体；允许光通过的光学元件，所述光学元件被安装在所述支撑体上延伸穿过所述直通通道；由导电材料制成的至少一个轨道，所述至少一个轨道被安装到所述光学元件，所述至少一个轨道形成被配置用于对所述支撑体和所述光学元件中的一个或多个的退化进行检测的安全元件；以及至少两根电气连接导线，所述电气连接导线被刚性地附接至所述支撑体并且分别包括：被电气连接至所述至少一个轨道的两个间隔开的位置的第一未遮盖部分；以及在所述支撑体外部的第二未遮盖部分。
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