[发明专利]一种高性能低温烧结叠层片式压敏电阻材料在审
申请号: | 201910227097.2 | 申请日: | 2019-03-25 |
公开(公告)号: | CN109796202A | 公开(公告)日: | 2019-05-24 |
发明(设计)人: | 李元勋;陆永成;彭睿;陶志华 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | C04B35/453 | 分类号: | C04B35/453;C04B35/622;C04B35/64;H01C7/112;H01C7/108 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 闫树平 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明涉及一种高稳定性低温烧结叠层片式压敏电阻材料,属于电子材料技术领域。本发明对ZnO‑Bi2O3基低温烧结压敏电阻材料,通过Ta2O5和BBSZ玻璃的加入,利用液相烧结机理加速了传质过程,进一步提高了材料的烧结致密度、降低了材料的烧结温度。由此材料通过叠层片式电容器生产制造工艺制备的片式压敏电阻器,其具有高稳定的压敏特性,烧结温度低(850℃~925℃),非线性系数高(≥86.26),漏电流小,具有良好的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 低温烧结 烧结 叠层片式压敏电阻 叠层片式电容器 片式压敏电阻器 电子材料技术 生产制造工艺 压敏电阻材料 非线性系数 材料通过 传质过程 高稳定性 液相烧结 高稳定 漏电流 压敏 制备 玻璃 应用 | ||
【主权项】:
1.一种高性能低温烧结叠层片式压敏电阻材料,其特征在于:在ZnO‑Bi2O3基低温烧结压敏电阻材料中添加Ta2O5与硼硅锌铋玻璃BBSZ,用料量Ta2O5:BBSZ:ZnO‑Bi2O3基的摩尔比为0.02~0.50:0.60~0.88:100.00~100.60;其中ZnO‑Bi2O3基包括Bi2O3、Co3O4、MnCO3、Sb2O3、Cr2O3、MgO、SiO2,用料量ZnO:Bi2O3:Co3O4:MnCO3:Sb2O3:Cr2O3:MgO:SiO2的摩尔比为94.70~95.80:0.58~0.72:0.11~0.19:0.38~0.58:0.88~2.10:0.24~0.39:0.30~1.10:0.40~0.72;将上述原料经球磨混合、烘干、粉碎过筛即可制得高性能低温烧结叠层片式压敏电阻材料。
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