[发明专利]单片集成互注入型窄线宽半导体激光器在审

专利信息
申请号: 201910071591.4 申请日: 2019-01-24
公开(公告)号: CN109616870A 公开(公告)日: 2019-04-12
发明(设计)人: 刘建国;于海洋;杨成悟;邹灿文;郭锦锦 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01S5/34 分类号: H01S5/34;H01S5/343;H01S5/12
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 李坤
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开提供了一种单片集成互注入型窄线宽半导体激光器。下包层、第一有源区、第二有源区、对接层、上包层、第一电极层和第二电极层;其中第一有源区、第二有源区通过对接层相连;第一有源区、第二有源区和对接层的下表面均与下包层的上表面相连,其中第一有源区、第二有源区和对接层的上表面均与上包层的下表面相连。本公开中第一有源区和第二有源区通过对接层实现互注入作用,在抑制频率噪声,压窄激光线宽的同时,对激射波长实现锁定,避免了传统的利用外腔压窄线宽结构的跳模危险,提高了频率的稳定性;同时本公开中采用的单片集成,利于完善器件的功能、提高器件的性能、减少器件的体积、降低器件的功耗,从而显著地降低了器件的成本,提高了器件的可靠性。
搜索关键词: 源区 对接层 单片集成 窄线宽 半导体激光器 上包层 上表面 下包层 下表面 注入型 第二电极 第一电极 激射波长 降低器件 频率噪声 传统的 激光线 功耗 跳模 外腔 锁定
【主权项】:
1.一种单片集成互注入型窄线宽半导体激光器,包括:下包层;第一有源区,生长于所述下包层上;所述第一有源区自下而上包括:第一多量子阱层和第一相移光栅层;第二有源区,生长于所述下包层上;所述第二有源区自下而上包括:第二多量子阱层和第二相移光栅层;对接层,生长于所述下包层上,所述对接层两端分别与第一有源区和第二有源区连接;上包层,生长于所述第一有源区的第一相移光栅层、所述第二有源区的第二相移光栅层和对接层上;第一电极层和第二电极层,分别生长于所述上包层上,用于引导注入电流。
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