[发明专利]测量用X射线CT装置及其校正方法在审
| 申请号： | 201910046385.8 | 申请日： | 2019-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN110057844A | 公开（公告）日： | 2019-07-26 |
| 发明（设计）人： | 浅野秀光;今正人 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供测量用X射线CT装置及其校正方法。测量用X射线CT装置一边使配置在旋转台上的被检体(8)旋转一边照射X射线(13)，对所得的投影图像进行重构来得到被检体的断层图像，该测量用X射线CT装置具备：X射线波动校正治具，其配置在X射线的视场内；检测单元，其使用该X射线波动校正治具的X射线投影像来检测X射线焦点位置(12D)的波动；以及校正单元，其使用检测出的波动来对被检体的X射线投影图像进行校正。 | ||
| 搜索关键词： | 被检体 测量 校正 校正治具 检测X射线 照射X射线 断层图像 焦点位置 使用检测 投影图像 校正单元 配置 重构 检测 | ||
【主权项】：
1.一种测量用X射线CT装置，一边使配置在旋转台上的被检体旋转，一边从配置于旋转台的一侧的X射线源照射X射线，对由配置于旋转台的与所述X射线源相反一侧的X射线检测器得到的投影图像进行重构来得到被检体的断层图像，所述测量用X射线CT装置的特征在于，具备：X射线波动校正治具，其配置在X射线的视场内；检测单元，其使用该X射线波动校正治具的X射线投影像来检测X射线焦点位置的波动；以及校正单元，其使用检测出的X射线焦点位置的波动来对被检体的X射线投影图像进行校正。
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