[发明专利]表面缺陷视觉检测方法、装置和电子设备有效
| 申请号： | 201910039533.3 | 申请日： | 2019-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN109872303B | 公开（公告）日： | 2021-04-23 |
| 发明（设计）人： | 李清勇;王建柱;甘津瑞 | 申请（专利权）人： | 北京交通大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06K9/32;G06K9/46 |
| 代理公司： | 北京市商泰律师事务所 11255 | 代理人： | 黄晓军 |
| 地址： | 100044 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种表面缺陷视觉检测方法，包括对输入的原始图像进行增强图像对比度的图像预处理，获取预处理结果图像并进行特征提取，获取每一像素特征向量；根据每一像素特征向量计算超像素块特征向量，并将超像素块特征向量组合构成特征矩阵；超像素块根据预处理结果图像进行超像素分割来获取；获取缺陷图像的先验信息并融合到低秩表示模型中，将特征矩阵分解为低秩矩阵和稀疏矩阵之和；根据超像素元素索引信息将稀疏矩阵转化为显著性图，对显著性图进行后处理，获取表面缺陷检测图，以此避免现有无损检测方式存在检测速度慢或是检测结果易受干扰的问题，加快无损检测的速度、提高无损检测的智能程度、加强无损检测的可回溯性。 | ||
| 搜索关键词： | 表面 缺陷 视觉 检测 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
1.一种表面缺陷视觉检测方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：对输入的原始图像进行增强图像对比度的图像预处理，获取预处理结果图像；对所述预处理结果图像进行特征提取，获取每一像素特征向量；根据所述每一像素特征向量计算超像素块特征向量，并且将所述超像素块特征向量组合起来构成特征矩阵；所述超像素块根据所述预处理结果图像进行超像素分割来获取；获取缺陷图像的先验信息，将所述先验信息融合到低秩表示模型中，将所述特征矩阵分解为低秩矩阵和稀疏矩阵之和；根据超像素元素索引信息将所述稀疏矩阵转化为显著性图，对所述显著性图进行后处理，获取表面缺陷检测图。
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