[发明专利]一种直齿轮齿面测量路径优化方法

摘要

本发明提出的一种直齿轮齿面测量路径优化方法，通过测量点优化和测量路径优化两部分，实现了优良的测量路径规划，提高了测量效率，降低了工作量，同时能够得到便于误差评定的数据。通过确定了最佳的测量路径，可以实现安全、准确、高效的自动测量。

主权项

1.一种直齿轮齿面测量路径优化方法，包括步骤1齿面测量点优化和步骤2规划最优测量路径两大部分，其特征在于：所述步骤1齿面测量点优化包括如下步骤：步骤1‑1，确定测量点数量，将齿面的公差范围T、机床能力P作为影响齿轮齿面质量的两个因素，应用统计学方法作为测量点数量规划的依据；假设测量点的尺寸偏差ε服从正态分布，即ε～X(0,σ²)或ε＝σZ，测量点在齿面上随机分布，则测量点数为：式中，C_P为工艺能力系数，C_P＝T/6σ；Z_1‑δ、Z_γ分别为标准正态分布的1‑δ、γ分位数；对上式取δ＝γ时，Z_1‑δ＝‑Z_γ(一般取δ＝0.05，则Z_γ＝1.65)，即综上，实际测量中，公差范围T和加工误差σ确定了，就可以利用公式就可以求得合理的测量点数；步骤1‑2，提出齿面测量点的布点策略，根据均匀分布法将齿面划分成若干个局部曲面片，通过计算各个局部曲面片的平均曲率来确定各个局部曲面片的测量点数量，使用Hammersley序列规划单个局部曲面的测量点分布，最后对分布后测量点进行修正，避免测量点之间的间距过小，保证测量点的合理分布，具体分为以下四个步骤：步骤1‑2‑1，均匀分布法划分齿面；步骤1‑2‑2，平均曲率确定局部曲面片的测量点数；步骤1‑2‑3，通过改进的Hammersley序列进行单个局部测量点分布；步骤1‑2‑4，对测量点进行修正；所述步骤2规划最优测量路径包括如下步骤：步骤2‑1，建立测量路径优化的目标函数；步骤2‑2，基于最大最小蚁群算法的测量路径优化，具体包括如下步骤：步骤2‑2‑1，建立蚁群算法数学模型；步骤2‑2‑2，进行蚁群算法的处理；步骤2‑2‑3，运用最大‑最小蚁群系统进行算法优化，得出优测量路径。