[发明专利]基于卷积神经网络的X射线计算机断层成像能谱估计方法有效

专利信息
申请号: 201910007663.9 申请日: 2019-01-04
公开(公告)号: CN109916933B 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 李磊;张文昆;李子恒;王林元;蔡爱龙;唐超;梁宁宁;闫镔;孙艳敏 申请(专利权)人: 中国人民解放军战略支援部队信息工程大学
主分类号: G01N23/046 分类号: G01N23/046;G01T1/36;G06T11/00
代理公司: 郑州大通专利商标代理有限公司 41111 代理人: 陈勇
地址: 450000 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明提供一种基于卷积神经网络的X射线计算机断层成像能谱估计方法。该方法包括:步骤1、设计用于描述CT图像与能谱中光子分布概率之间耦合关系的卷积神经网络;步骤2、利用构建的训练数据集对所述卷积神经网络进行训练,得到训练好的卷积神经网络;步骤3、利用所述训练好的卷积神经网络对CT图像进行能谱估计,得到CT图像能谱信息。该方法主要从图像域的角度通过CT重建图像的特征来估计X射线能谱信息,不需要额外的硬件或专用工作流程,可以直接应用于现有CT扫描系统中,有利于提高效率。
搜索关键词: 基于 卷积 神经网络 射线 计算机 断层 成像 估计 方法
【主权项】:
1.基于卷积神经网络的X射线计算机断层成像能谱估计方法,其特征在于,包括:步骤1、设计用于描述CT图像与能谱中光子分布概率之间耦合关系的卷积神经网络;步骤2、利用构建的训练数据集对所述卷积神经网络进行训练,得到训练好的卷积神经网络;步骤3、利用所述训练好的卷积神经网络对CT图像进行能谱估计,得到CT图像能谱信息。
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