[发明专利]非易失性存储器器件和空白检查方法在审
| 申请号： | 201880082902.0 | 申请日： | 2018-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN111512373A | 公开（公告）日： | 2020-08-07 |
| 发明（设计）人： | J·朴;S·谢蒂;约拉姆·比特森;阿米凯·吉万特;乔纳斯·尼奥;帕万·辛格;斯特凡诺·阿马托;辛迪·孙;阿米尔·洛奇曼 | 申请（专利权）人： | 赛普拉斯半导体公司 |
| 主分类号： | G11C7/06 | 分类号： | G11C7/06;G11C7/22;G11C16/26;G11C16/28;G11C16/34;G11C11/56 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 周靖;杨明钊 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了一种非易失性存储器器件及其操作方法。存储器器件可以具有多个互补的存储器单元。空白检查方法包括：检测真值晶体管和互补晶体管中的每一个的状态值，产生上限状态值，其中，第一预定量的真值晶体管和互补晶体管具有比上限状态值大的状态值，产生下限状态值，其中，第二预定量的真值晶体管和互补晶体管具有比下限状态值小的状态值，基于上限状态值和下限状态值之间的差值产生状态值范围，并将状态值范围与阈值进行比较，以确定多个互补存储器单元是处于空白状态还是非空白状态。本文还公开了其他实施例。 | ||
| 搜索关键词： | 非易失性存储器 器件 空白 检查 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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