[发明专利]用于垂直磁化的磁性穿隧结的低电阻MgO盖层有效
申请号: | 201880078019.4 | 申请日: | 2018-12-07 |
公开(公告)号: | CN111566832B | 公开(公告)日: | 2023-05-30 |
发明(设计)人: | 沙希·帕特尔;真杰诺;童儒颖;维格纳许·桑达;沈冬娜;王郁仁;王伯刚;刘焕龙 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H10N50/10 | 分类号: | H10N50/10;H10N50/85;H10N50/01 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 张福根;付文川 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: |
本发明实施例公开了一种磁性穿隧结(magnetic tunnel junction,MTJ),其中自由层(free layer,14,FL)与第一金属氧化(metal oxide,17a,MO |
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搜索关键词: | 用于 垂直 磁化 磁性 穿隧结 电阻 mgo 盖层 | ||
【主权项】:
暂无信息
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