[发明专利]用于集成电路测试的具有测试引脚和壳体的高隔离接触器有效
| 申请号： | 201880062342.2 | 申请日： | 2018-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN111164434B | 公开（公告）日： | 2022-10-28 |
| 发明（设计）人： | 杰弗里·谢里;迈克尔·安德烈斯 | 申请（专利权）人： | 约翰国际有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H01R13/187;H01R13/10;H01R13/08;G01R1/04;H01R13/6585;H01R13/40 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 顾欣;佟泽宇 |
| 地址： | 美国明*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于测试集成电路的测试插座，具有受控的阻抗，同时保持测试引脚的结构完整性。引脚可以具有侧壁，该侧壁具有沿引脚的长度的厚部和薄部。引脚可以具有突出部，该突出部提供相对于槽的间隔。侧壁本身可以具有延伸到槽中并为引脚提供稳定性的突出部或连接盘。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 集成电路 测试 具有 引脚 壳体 隔离 接触器 | ||
【主权项】：
暂无信息
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