[发明专利]用于集成电路测试的具有测试引脚和壳体的高隔离接触器

权利要求书

1.一种装置，其用于将待测试的集成电路(12)设备的引线电连接到负载板(24)在测试位点处的相应端子，所述装置包括：

a.壳体(14)，其具有上表面和下表面、第一表面和第二表面，所述第一表面能够接近待测试的被测试集成电路设备(12)，所述第二表面靠近所述负载板；

b.槽，其从所述第一表面到所述第二表面延伸穿过所述壳体，所述槽包括平行间隔开的相对的第一内壁和第二内壁，从而在第一内壁和第二内壁之间限定空间；

c.触点引脚(20)，其具有第一侧壁和第二侧壁并且能够滑动地容纳在所述槽(40)中，所述引脚具有能够由所述引线接合的第一端和与所述端子接合的第二端，所述引脚仅填充所述槽的一部分，从而在所述引脚的侧壁和所述槽的内壁之间留有间隙；

d.第一非导电突出部(61、60、47、43、42、34)和第二非导电突出部，所述第一非导电突出部填充所述间隙邻近所述第一内壁的部分，允许空气在所述触点引脚和所述壳体之间提供电介质，所述第二非导电突出部填充所述间隙邻近所述第二内壁的部分；当所述引脚与被测试设备接合时，所述突出部为所述引脚提供纵向稳定性和横向强度，并允许空气在所述间隙中的所述突出部周围提供电介质，并且不会将所述引脚与所述壳体电短路。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述壳体包括管状的圆形弹性体弹性元件，并且其中，所述引脚包括用于容纳所述弹性元件的一部分的弓形凹部，并且其中，所述引脚的一部分插入在所述负载板和所述弹性元件之间，并且其中，所述突出部从所述引脚的侧壁向外延伸并至少包围与所述弹性构件接合的那部分引脚。

3.根据权利要求1所述的装置，其中，所述突出部相对于所述第二侧壁不对称地布置在所述第一侧壁上。

4.根据权利要求1所述的装置，其中，所述突出部从所述槽的所述内壁中的一个或两个朝向所述引脚延伸。

5.根据权利要求1所述的装置，其中，所述壳体(14)包括具有所述槽(40)的顶表面，并且其中，与所述槽相邻的所述表面为凹部(31)，从而使所述引脚的一部分暴露于空气。

6.根据权利要求1所述的装置，其中，所述引脚包括顶端和底端，并且其中，所述突出部在所述顶端和底端之间沿对角线路径延伸。

7.根据权利要求1所述的装置，其中，所述触点引脚包括多个相邻的触点引脚，在所述引脚之间没有分离壁，并且其中，所述突出部从所述引脚的侧壁延伸并且直接接合相邻的引脚侧壁，并且其中，所述突出部位于第一内壁和第二内壁上，使得突出部彼此永远不会直接接触。

8.根据权利要求1所述的装置，其中，所述触点引脚包括预定厚度的上部和厚度大于所述预定厚度的下部，并且其中，所述槽具有间隔开的上侧壁和下侧壁，所述上侧壁间隔成仅容纳所述引脚部的所述上部并且所述下侧壁间隔成仅容纳所述引脚部的所述下部，使得所述引脚能够在第一内壁和第二内壁内滑动。

9.一种制造用于测试被测试设备的改进的阻抗集成电路测试接触器的方法，壳体具有上表面和下表面、第一表面和第二表面，所述第一表面能够接近待测试的被测试集成电路设备(12)，所述第二表面靠近负载板；槽从所述第一表面到所述第二表面延伸穿过所述壳体，所述槽包括平行间隔开的相对的第一内壁和第二内壁，从而在第一内壁和第二内壁之间限定空间；触点引脚具有第一侧壁和第二侧壁并且能够滑动地容纳在所述槽中，所述引脚具有能够由引线接合的第一端和与端子接合的第二端，所述引脚仅填充所述槽的一部分，从而在所述引脚的侧壁和所述槽的内壁之间留有间隙；所述方法包括：

形成第一非导电突出部以及第二非导电突出部，所述第一非导电突出部填充所述间隙的与所述第一内壁相邻的部分，所述第二非导电突出部填充所述间隙的与所述第二内壁相邻的部分；允许空气填充所述突出部周围的空间，以在所述间隙中的所述突出部周围提供电介质。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述形成第一非导电突出部和第二非导电突出部的步骤包括形成从所述引脚的第一内壁和第二内壁的一个或两个延伸的突出部。