[发明专利]自动分析装置以及自动分析方法有效
| 申请号： | 201880058137.9 | 申请日： | 2018-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN111094993B | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 风间佑斗;饭岛昌彦;薮谷千枝;小暮研二 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;G01N35/02 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 钟晶;陈彦 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种技术，其涉及具备两种以上的多个光度计的自动分析装置，即使在存在测定时的异常等的情况下，也能够根据多个光度计的测定结果以及数据警报实现合适的输出。自动分析装置具备定量范围不同的例如两种光度计、以及控制分析的分析控制部，所述分析包括对于对象检测体使用两种光度计进行的测定。分析控制部在使用了两种光度计的两种测定结果中附记有与测定时的异常等对应的两种数据警报的情况下(步骤S204‑(C))，与两种数据警报的组合对应地，选择要输出的测定结果以及数据警报并作为分析结果向用户输出(步骤S205)。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立高新技术，未经株式会社日立高新技术许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201880058137.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
