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[发明专利]自动分析装置以及自动分析方法-CN202111151908.9在审
发明人：风间佑斗;饭岛昌彦;薮谷千枝;小暮研二 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2018-09-06 - 公布日： 2021-12-10 - 主分类号： G01N35/02 文献下载
摘要：本发明提供自动分析装置，具备控制分析的控制部，所述分析对于对象检测体使用定量范围不同的多个校准线，所述控制部进行：取得包含使用了所述多个校准线的多个测定值在内的多个测定结果，在使用了所述多个校准线的测定时，在检测到异常的情况下，对所述多个测定结果中的使用了对应的校准线的测定结果，附记与所述异常的类别对应的数据警报，在所述多个测定结果中附记有多个数据警报的情况下，基于所述多个测定结果以及所述多个数据警报，决定要输出的测定结果以及数据警报。
自动分析装置以及方法

[发明专利]自动分析装置以及自动分析方法-CN201880058137.9有效
发明人：风间佑斗;饭岛昌彦;薮谷千枝;小暮研二 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2018-09-06 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明提供一种技术，其涉及具备两种以上的多个光度计的自动分析装置，即使在存在测定时的异常等的情况下，也能够根据多个光度计的测定结果以及数据警报实现合适的输出。自动分析装置具备定量范围不同的例如两种光度计、以及控制分析的分析控制部，所述分析包括对于对象检测体使用两种光度计进行的测定。分析控制部在使用了两种光度计的两种测定结果中附记有与测定时的异常等对应的两种数据警报的情况下(步骤S204‑(C))，与两种数据警报的组合对应地，选择要输出的测定结果以及数据警报并作为分析结果向用户输出(步骤S205)。
自动分析装置以及方法