[发明专利]用于校正磁体相对于GMR传感器的位置的方法和装置有效
| 申请号： | 201880036091.0 | 申请日： | 2018-06-07 |
| 公开（公告）号： | CN110678716B | 公开（公告）日： | 2022-04-08 |
| 发明（设计）人： | 马库斯·迪特里希 | 申请（专利权）人： | 舍弗勒技术股份两合公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 柳春雷 |
| 地址： | 德国黑措*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于校正磁体相对于GMR传感器的位置的方法，其中，借助第二评估电路（21）由通过固定在电动机（14）的转子（17）上的磁体（18）产生的可变磁场得出转子的位置。在可以实现GMR传感器（20）的高精度信号输出的方法中，由通过磁体展开的磁场的磁总矢量的方向和/或转动推导出GMR传感器（20）的最佳工作区域，这通过借助第二磁场传感器在通过磁总矢量展开的平面中测量磁场强度实现。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 校正 磁体 相对于 gmr 传感器 位置 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.用于校正磁体相对于GMR传感器的位置的方法，其中，借助评估单元(21)由通过固定在驱动单元(14)的转子(17)上的磁体(18)产生的可变磁场得出所述转子(17)的位置，其特征在于，由通过所述磁体(18)展开的磁场的磁总矢量的方向和/或转动推导出所述GMR传感器(20)的最佳工作区域，这通过借助第二磁场传感器在通过所述磁总矢量展开的平面中测量磁场强度实现。/n
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