[发明专利]分光光度计在审
| 申请号： | 201880035080.0 | 申请日： | 2018-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN110678722A | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | 川崎贵志;藤井秀彦;鹤谷克敏 | 申请（专利权）人： | 柯尼卡美能达株式会社 |
| 主分类号： | G01J3/10 | 分类号： | G01J3/10;G01N21/27 |
| 代理公司： | 11105 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 谢辰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种分光光度计，不必在分光光度计的内部设置较大的空间，能够向被测量位置照射观察光，并且能够容易地知道被测量位置。在分光光度计中，在与被测量位置光学上共轭的位置配置狭缝。来自被测量物体的光通过狭缝，在测量光路上行进，通过波长色散元件进行波长色散。在测量光谱时，使观察光源向测量光路外退避。在观察被测量位置时，观察光源插入测量光路内，向狭缝发出观察光。或者，来自被测量物体的光通过狭缝，通过衍射光栅进行衍射。观察光源配置在0阶光的光路上。在观察被测量位置时，观察光源向衍射光栅发出观察光。 | ||
| 搜索关键词： | 测量位置 观察光源 狭缝 分光光度计 观察 测量光路 衍射光栅 测量 波长色散元件 波长色散 内部设置 位置配置 测量光 共轭 光谱 阶光 退避 衍射 照射 行进 配置 | ||
【主权项】：
1.一种分光光度计，具有：/n受光光学系统，其使来自被测量位置的被测量光成像，生成成像的被测量光；/n狭缝形成体，其形成狭缝，所述狭缝配置在与所述被测量位置在光学上共轭的位置，使所述成像的被测量光通过，生成在测量光路上行进的被测量光；/n波长色散元件，其对在所述测量光路上行进的被测量光进行波长色散，生成进行了波长色散的被测量光；/n传感器，其接受进行了所述波长色散的被测量光，输出表示光谱的信号；/n观察光源，其在观察所述被测量位置时发出观察光；/n插拔机构，其在观察所述被测量位置时向所述测量光路内插入所述观察光源以朝向所述狭缝发出所述观察光，并且在测量所述光谱时使所述观察光源向所述测量光路外退避。/n
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