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- [发明专利]测量位置-CN200810131136.0无效
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赵泳勋
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韩国科亚电子股份有限公司
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2008-07-30
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2009-02-04
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G01S5/02
- 公开了一种用于测量对象装置的位置的技术、系统和计算机可读介质。一种位置测量设备包括接收单元，被设计为接收从用于位置测量的对象装置传输的信号。该位置测量设备还包括位置计算单元，被设计为通过利用所接收的信号应用到达角(AOA)和到达时间(TOA)技术来计算对象装置的位置。该位置测量设备还包括介质信道估计单元，被设计为利用所接收的信号来估计所接收的信号在传输路径上所穿透的介质的信道。该位置测量设备还包括位置确定单元，配置为利用所估计的介质信道来计算由穿透该介质的所接收的信号引起的延迟时间，并利用该延迟时间来校正该位置计算单元所计算的对象装置的位置。
- 测量位置
- [发明专利]微波位置测量装置和位置测量方法-CN200780016451.2无效
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T·赖宁格;M·梅尔;M·冯泽佩林
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费斯托股份有限两合公司
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2007-04-18
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2009-06-17
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G01D5/48
- 本发明涉及用于可移动地安装在致动器外壳(13)的作用空间(12)中的致动器(11)的致动器元件(14)的位置检测的位置测量方法和微波位置测量装置(30)，所述微波位置测量装置具有高频微波天线结构(34)f2，f3)的微波(43)发送到作用空间，并且用于接收来自作用空间(44)的通过在所述致动器元件上至少部分反射的发射的微波(43)形成的微波，并且具有评估装置(42)，用于形成表示所述致动器元件的特定位置(X)的位置信号(52)，借助于通过反射微波(44)形成的测量信号(50)。对于微波位置测量装置(30)来说，假设用于形成位置信号(52)的评估装置(42)是通过测量信号(50)的分量(Ug11a，Ug12a，Ug13a)进行加权，所述分量取决于至少两种不同频率(f1，f2，f3)，并且取决于致动器元件(14)的特定位置(X)。
- 微波位置测量装置测量方法
- [发明专利]位置测量装置-CN202010651930.9在审
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T.贝克;J.米特莱特纳;W.普克尔
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约翰内斯·海德汉博士有限公司
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2020-07-08
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2021-01-08
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G01B21/04
- 本发明涉及一种用于测量两个物体在进给方向上和在另外的自由度上的相对位置的位置测量装置。为此，承载本体（1）具有至少三个在进给方向上延伸的表面（O1、O2、O3），这些表面中的每一个承载第一测量刻度（T11‑T13）和第二测量刻度（T21‑T23）。第一测量刻度（T11‑T13）和第二测量刻度（T21‑T23）分别具有刻度线的序列，其中第一测量刻度（T11‑T13）的刻度线相对于第二测量刻度（T21‑T23）的刻度线倾斜。为了扫描测量刻度（T11‑T13、T21‑T23），设置有多个扫描单元（A11‑A13、A21‑A23），其相对于测量刻度（T11‑T13、T21‑T26）如此布置，从而产生共同的热中性点（P）。
- 位置测量装置
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