[发明专利]质量检查方法有效
| 申请号： | 201880021838.5 | 申请日： | 2018-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN110462390B | 公开（公告）日： | 2022-03-08 |
| 发明（设计）人： | 沟口启介;北村光晴;后藤贤治 | 申请（专利权）人： | 柯尼卡美能达株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/20008 | 分类号： | G01N23/20008 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 许海兰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供不破坏立体层叠造型物而能够简单迅速地检查立体层叠造型物的内部状态的质量检查方法。为此，提供一种使用X射线塔尔博特拍摄系统(1)的质量检查方法，在X射线塔尔博特拍摄系统(1)中，根据通过利用X射线检测器读取从X射线源(11a)照射并透射在与X射线的照射轴方向正交的方向上排列有多个狭缝(S)的多个光栅以及载置于被摄体台(13)的检查对象物(H)后的X射线而得到的波纹图像，生成检查对象物的重构图像，其中，检查对象物(H)是通过将构成材料层叠多层而成为立体形状的立体层叠造型物，通过X射线塔尔博特拍摄系统(1)，在以至少使构成检查对象物(H)的层的层叠方向和多个光栅的多个狭缝(S)的排列方向平行的方式将检查对象物(H)载置于被摄体台(13)的状态下生成重构图像，根据该重构图像进行检查对象物(H)的内部状态检查。 | ||
| 搜索关键词： | 质量 检查 方法 | ||
【主权项】：
1.一种质量检查方法，是使用X射线塔尔博特拍摄系统的质量检查方法，其特征在于，在该X射线塔尔博特拍摄系统中，在照射轴方向上排列配置有照射X射线的X射线源、在与所述X射线的所述照射轴方向正交的方向上排列有多个狭缝的多个光栅、载置检查对象物的被摄体台以及X射线检测器，根据通过利用所述X射线检测器读取从所述X射线源照射并透射所述多个光栅以及被载置于所述被摄体台的所述检查对象物后的X射线而得到的波纹图像，生成所述检查对象物的重构图像，其中，/n所述检查对象物是通过将构成材料层叠多层而成为立体形状的立体层叠造型物，/n通过所述X射线塔尔博特拍摄系统，在以至少使构成所述检查对象物的层的层叠方向和所述多个光栅的所述多个狭缝的排列方向平行的方式将所述检查对象物载置于所述被摄体台的状态下生成所述重构图像，根据该重构图像进行所述检查对象物的内部状态检查。/n
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