[发明专利]用于确定电容传感器元件的接触时刻的方法有效
| 申请号： | 201880017199.5 | 申请日： | 2018-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN110521123B | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 斯蒂芬·奎因特;克里斯托弗·雷伯;菲利普·修雷克;卡尔·克里斯蒂安·莱科索 | 申请（专利权）人： | 利奥波德·科世达责任有限股份公司 |
| 主分类号： | H03K17/96 | 分类号： | H03K17/96 |
| 代理公司： | 北京博华智恒知识产权代理事务所(普通合伙) 11431 | 代理人： | 樊卫民;陈晓 |
| 地址： | 德国吕*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定电容传感器元件的接触时刻的方法，其中连续测量传感器元件的电容值并将电容值处理成数字传感器信号。通过借助于数字滤波器、优选FIR滤波器对所述传感器信号进行滤波，产生滤波器信号，滤波器信号在其时间走向中再现传感器信号的动态特性，数字滤波器在偏移消除的同时执行脉冲压缩，对所述滤波器信号的观察不仅使得通常可见与电容传感器元件的接触，而且还可以高度可靠地确定该接触的精确时刻。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 电容 传感器 元件 接触 时刻 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于确定电容传感器元件的接触时刻的方法，其中连续测量传感器元件的电容值并且将所述电容值处理成数字的传感器信号(SS)，其特征在于，连续确定的所述传感器信号(SS)经历以下方法步骤：/n-借助于数字滤波器、优选FIR滤波器(FIR)对所述传感器信号(SS)进行滤波，所述数字滤波器通常显示高通或带通特性并且输出滤波器信号(FS)，/n-当所述滤波器信号(FS)超过固定的第一滤波器阈值(FT1)时，确定初始动态，/n-确定所述滤波器信号(FS)低于固定的第二滤波器阈值(FT2)的时刻作为该接触的潜在时刻，/n-当所述传感器信号(SS)相对于所述传感器信号的偏移超过传感器信号阈值(ST1)时，输出所述电容传感器元件的接触的所确定的实际时刻(BZ)。/n
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