[发明专利]基板处理系统有效
申请号: | 201880012674.X | 申请日: | 2018-01-12 |
公开(公告)号: | CN110313060B | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 羽岛仁志;松冈伸明;中岛常长;安武孝洋;船越秀朗;中村泰之 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L21/027 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种基板处理系统,其具备热处理装置等作为处理基板的处理装置,在该处理装置设置有用于输送晶圆的输送区域,在该基板处理系统中,具备声波辐射装置,该声波辐射装置辐射声波,防止输送区域内的浮游微粒向基板附着。声波辐射装置设置于例如输送区域的与热处理装置的晶圆的输入输出口相邻的区域、基板输送区域的与相对于盒载置部而言的基板输入输出口相邻的区域。另外,声波反射装置也可以安装于基板输送装置。 | ||
搜索关键词: | 处理 系统 | ||
【主权项】:
1.一种基板处理系统,其具备用于处理基板的处理装置,在该处理装置设置有用于输送基板的基板输送区域,在该基板处理系统中,该基板处理系统具备声波辐射装置,该声波辐射装置辐射声波,防止所述基板输送区域内的浮游微粒向基板附着。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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