[发明专利]自测试控制器以及用于控制自测试的方法有效
| 申请号： | 201880011527.0 | 申请日： | 2018-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN110291588B | 公开（公告）日： | 2023-05-30 |
| 发明（设计）人： | A·贾恩;N·布珊辛;R·古拉蒂;P·布彦;R·K·金杰;R·亚沃布 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/36 | 分类号： | G11C29/36;G11C29/10;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华;傅远 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种自测试控制器(100)，包括被配置为存储测试模式的存储器(104)、配置寄存器(102)和存储器数据组件。使用各种技术将测试模式编码在存储器中以便节省存储空间。通过使用配置参数，存储器数据组件被配置为译码测试模式并且在多个测试核(706)上执行多个内置自测试。所描述的技术允许在利用存储器中的较少空间的同时动态地执行内置自测试。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 控制器 以及 用于 控制 方法 | ||
【主权项】：
1.一种自测试控制器，包括：存储器，被配置为存储包括测试子模式的第一测试模式，使得所述测试子模式中的每个测试子模式包括测试向量，并且所述测试子模式中的每个测试子模式中的所述测试向量对应于多个测试核中的不同测试核；配置寄存器，被配置为存储配置参数，所述配置参数指示被测试启用的所述多个测试核的子集；以及存储器数据组件，被配置为上载所述第一测试模式并且译码在与所述配置参数指示为被测试启用的所述多个测试核的所述子集相对应的所述测试子模式的子集中的所述测试向量。
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