[发明专利]自测试控制器以及用于控制自测试的方法

权利要求书

1.一种自测试控制器，包括：

存储器，被配置为存储包括测试子模式的第一测试模式，使得所述测试子模式中的每个测试子模式包括测试向量，并且所述测试子模式中的每个测试子模式中的所述测试向量对应于多个测试核中的不同测试核，其中测试核是通过应用所述测试向量中的一个测试向量被测试的核；

配置寄存器，被配置为存储配置参数，所述配置参数指示被测试启用的所述多个测试核的子集；以及

存储器数据组件，被配置为上载所述第一测试模式并且译码在与所述配置参数指示为被测试启用的所述多个测试核的所述子集相对应的所述测试子模式的子集中的所述测试向量。

2.根据权利要求1所述的自测试控制器，其中所述存储器数据组件被配置为忽略不在所述测试子模式的所述子集中的所述测试向量，所述测试子模式的所述子集与所述配置参数指示为被测试启用的所述多个测试核的所述子集相对应。

3.根据权利要求1所述的自测试控制器，其中所述存储器数据组件被配置为译码所述测试子模式的所述子集中的所述测试向量，以便生成联合测试行动组JTAG测试向量。

4.根据权利要求1所述的自测试控制器，还包括与所述多个测试核可操作地相关联的联合测试行动组JTAG接口，其中所述存储器数据组件被配置为：

译码所述测试子模式的所述子集中的所述测试向量，以便生成包括JTAG子模式的JTAG模式，使得所述JTAG子模式中的每个JTAG子模式包括与所述配置参数指示为被测试启用的所述多个测试核的所述子集中的不同测试核相对应的JTAG向量；以及

通过所述JTAG接口将所述JTAG模式应用于所述多个测试核的所述子集，使得所述JTAG子模式由所述多个测试核的所述子集并行实现。

5.根据权利要求1所述的自测试控制器，其中所述存储器被配置为存储所述测试子模式的所述测试向量，使得所述测试向量中的每个测试向量被编码为包括测试数据和核标识符，所述核标识符标识所述多个测试核中的相应的测试核。

6.根据权利要求1所述的自测试控制器，其中所述存储器被配置为存储第二测试模式，使得所述第一测试模式是被包括作为所述第二测试模式的切片的测试子模式。

7.根据权利要求1所述的自测试控制器，其中所述存储器数据组件包括存储器数据有限状态机。

8.根据权利要求1所述的自测试控制器，其中：

所述存储器还被配置为存储第一编码测试向量，所述第一编码测试向量包括具有第一测试数据的第一数据字段、具有第一重复值的第一重复字段、以及指示所述第一编码测试向量包括具有所述第一测试数据的所述第一数据字段和具有所述第一重复值的所述第一重复字段的第一操作码；以及

所述存储器数据组件被配置为：

上载来自所述存储器的所述第一编码测试向量；

读取所述第一操作码；

响应于读取所述第一操作码，从所述第一编码测试向量的所述第一数据字段提取所述第一测试数据，并且从所述第一编码测试向量的所述第一重复字段提取所述第一重复值；以及

响应于提取所述第一测试数据和所述第一重复值，生成第一组测试向量，其中所述第一组测试向量中的每个测试向量包括作为所述第一测试数据的副本的测试数据，并且所述第一组测试向量中的所述测试向量的数目与所述第一重复值相对应。