[发明专利]自测试控制器以及用于控制自测试的方法

说明书

一种自测试控制器(100)，包括被配置为存储测试模式的存储器(104)、配置寄存器(102)和存储器数据组件。使用各种技术将测试模式编码在存储器中以便节省存储空间。通过使用配置参数，存储器数据组件被配置为译码测试模式并且在多个测试核(706)上执行多个内置自测试。所描述的技术允许在利用存储器中的较少空间的同时动态地执行内置自测试。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2017年2月13日提交的题为“IN-FIELD SELF-TEST CONTROLLER FORSAFETY CRITICAL AUTOMOTIVE USE CASES”的美国临时申请序列号62/458,534和于2017年12月7日提交的题为“IN-FIELD SELF-TEST CONTROLLER FOR SAFETY CRITICALAUTOMOTIVE USE CASES”的美国专利申请号15/835,227的权益，其全部内容通过引用明确地并入本文。

技术领域

本公开总体上涉及自测试控制器，并且更具体地涉及用于安全关键汽车用例的现场自测试控制器。

背景技术

国际标准化组织(ISO)26262是用于汽车中的电气/电子系统的功能安全的国际标准。ISO 26262定义了汽车电子/电气系统的整个生命周期内的汽车设备的功能安全。一个关键的功能安全要求是确保安全相关的汽车电子/电气系统的完整性。安全相关的汽车电子/电气系统的完整性可以通过现场自测试来检查。需要与安全相关的汽车电子/电气系统的现场自测试相关的新的设备和方法。

发明内容

在本公开的一个方面，公开了一种自测试控制器。自测试控制器包括存储器，存储器被配置为存储包括测试子模式的测试模式，使得每个测试子模式包括测试向量，并且测试子模式的每个测试子模式中的测试向量对应于多个测试核中的不同测试核。自测试控制器还包括被配置为存储配置参数的配置寄存器，该配置参数指示被测试启用的多个测试核的子集。此外，自测试控制器还具有存储器数据组件，存储器数据组件被配置为上载测试模式并且译码在与配置参数指示为被测试启用的多个测试核的子集相对应的测试子模式的子集中的测试向量。以这种方式，需要较少的存储空间来将测试模式存储在存储器中，因为不必为可以启用和禁用的每个测试核组合存储测试模式。

在另一方面，公开了一种自测试控制器，其包括存储器和存储器数据组件。存储器被配置为存储第一测试数据和第一重复值。存储器数据组件被配置为上载来自存储器的第一测试数据和第一重复值，并且存储器数据组件被配置为生成第一组测试向量，使得第一组测试向量中的每个测试向量包括作为第一测试数据的副本的测试数据，并且第一组测试向量中的测试向量的数目与所述第一重复值相对应。以这种方式，不必重复存储重复测试数据，从而节省了存储器中的存储空间。

附图说明

图1是示出示例性自测试控制器的图。

图2是示出示例性自测试控制器数据流的图。

图3示出了用于存储在图1和2中所示的自测试控制器的ROM中的16位测试向量的编码方案的一个示例。

图4示出了用于存储在图1和2中所示的自测试控制器的ROM中的16位测试向量的编码方案的另一示例。

图5示出了用于存储在图1和2中所示的自测试控制器的ROM中的64位测试向量的编码方案的一个示例。

图6示出了用于存储在图1和2中所示的自测试控制器的ROM中的64位测试向量的编码方案的一个示例。

图7是示出自测试控制器集成细节的图。

图8是示出可以由图1和2中所示的自测试控制器执行的示例性方法的一个流程图。

图9是示出可以由图1和2中所示的自测试控制器执行的示例性方法的另一流程图。

具体实施方式