[实用新型]用于荧光X射线分析装置的夹具有效

专利信息
申请号: 201822128961.7 申请日: 2018-12-18
公开(公告)号: CN209570528U 公开(公告)日: 2019-11-01
发明(设计)人: 井上稔 申请(专利权)人: 株式会社理学
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 北京瑞盟知识产权代理有限公司 11300 代理人: 刘昕;刘蓉
地址: 日本国东京都昭*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 实用新型提供一种无需在试料架与用于荧光X射线分析装置的夹具之间转移试料的用于荧光X射线分析装置的夹具。用于荧光X射线分析装置的夹具,为与荧光X射线分析装置共用在中央处具有供试料配置的凹部或者孔的X射线衍射装置的试料架的夹具,具备:基座部件,其具有与所述试料架的下表面抵接的第一上表面、和以在与所述第一上表面之间具有高低差的方式而形成的第二上表面;以及环,其具有所述试料架的外侧侧面以及设置有所述高低差的区域的外侧侧面与内侧侧面抵接的圆筒部、和被设置在所述圆筒部的下端部并与所述第二上表面抵接的法兰,并且在与所述试料架以及所述基座部件之间夹入对所述试料的表面进行覆盖的薄膜。
搜索关键词: 试料 荧光X射线分析 夹具 上表面 抵接 基座部件 高低差 圆筒部 本实用新型 内侧侧面 装置共用 侧面 配置的 下表面 下端部 中央处 凹部 法兰 夹入 薄膜 覆盖
【主权项】:
1.一种用于荧光X射线分析装置的夹具,其为与荧光X射线分析装置共用在中央处具有供试料配置的凹部或者孔的X射线衍射装置的试料架的夹具,所述用于荧光X射线分析装置的夹具的特征在于,具备:基座部件,其具有与所述试料架的下表面抵接的第一上表面、和以在与所述第一上表面之间具有高低差的方式而形成的第二上表面;以及环,其具有所述试料架的外侧侧面以及设置有所述高低差的区域的外侧侧面与内侧侧面抵接的圆筒部、和被设置在所述圆筒部的下端部并与所述第二上表面抵接的法兰,并且在与所述试料架以及所述基座部件之间夹入对所述试料的表面进行覆盖的薄膜。
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