[实用新型]Per-Pin结构VXI总线测试系统时间沿校准模块有效
| 申请号： | 201822002648.9 | 申请日： | 2018-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN209014973U | 公开（公告）日： | 2019-06-21 |
| 发明（设计）人： | 李杰 | 申请（专利权）人： | 北京自动测试技术研究所 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381 | 代理人： | 陈曦;任佳 |
| 地址： | 100088 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种Per‑Pin结构VXI总线测试系统时间沿校准模块。该时间沿校准模块包括设置在印刷电路板上的主控制器、配置存储器、继电器矩阵和时间测量模块；主控制器一方面连接Per‑Pin结构VXI总线测试系统，另一方面分别连接配置存储器、继电器矩阵和时间测量模块；继电器矩阵一方面连接Per‑Pin结构VXI总线测试系统，另一方面连接时间测量模块。本时间沿校准模块可以与各种Per‑Pin结构VXI总线测试系统相互配合，自动完成相关测试系统的时间沿校准工作。 | ||
| 搜索关键词： | 测试系统 校准模块 时间测量模块 继电器矩阵 主控制器 本实用新型 配置存储器 印刷电路板 连接配置 自动完成 存储器 校准 配合 | ||
【主权项】：
1.一种Per‑Pin结构VXI总线测试系统时间沿校准模块，其特征在于包括设置在印刷电路板上的主控制器、配置存储器、继电器矩阵和时间测量模块；所述主控制器一方面连接Per‑Pin结构VXI总线测试系统，另一方面分别连接所述配置存储器、所述继电器矩阵和所述时间测量模块；所述继电器矩阵一方面连接所述Per‑Pin结构VXI总线测试系统，另一方面连接所述时间测量模块。
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