[实用新型]一种用于微波器件的检测装置有效
| 申请号： | 201821722135.9 | 申请日： | 2018-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN209356589U | 公开（公告）日： | 2019-09-06 |
| 发明（设计）人： | 杜正平;程堋;杨鹏霖 | 申请（专利权）人： | 成都赛迪育宏检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 成都科奥专利事务所(普通合伙) 51101 | 代理人： | 李志清 |
| 地址： | 610000 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于微波器件的检测装置，包括装置主体，装置主体包括测试箱，测试箱上部设有开口，开口上设有密封盖，测试箱底部设有检测台，检测台上设有夹具，夹具包括第一夹块和第二夹块，第一夹块和第二夹块相对设置，第一夹块和第二夹块上均设有相互对应的第一方形缺口，两个第一方形缺口相互配合形成第一容纳区，第一夹块和第二夹块上还设有相互对应的第二方形缺口，第二方形缺口与所述第一方形缺口连接，第二方形缺口位于第一方形缺口的下方，两个第二方形缺口相互配合形成第二容纳区，测试箱的侧壁上设有通孔，通孔内设有测试探头，测试探头外接测试电路，装置主体还包括测试仪。本实用新型结构简单、实用高效且能测试多种微波器件。 | ||
| 搜索关键词： | 方形缺口 夹块 测试箱 微波器件 装置主体 夹具 本实用新型 测试探头 检测装置 容纳区 通孔 开口 测试电路 相对设置 测试仪 检测台 密封盖 侧壁 外接 配合 测试 检测 | ||
【主权项】：
1.一种用于微波器件的检测装置，其特征在于，包括装置主体，所述装置主体包括测试箱，所述测试箱上部设有开口，所述开口上设有密封盖，所述密封盖通过转轴与所述测试箱连接，所述测试箱底部设有检测台，所述检测台上设有夹具，所述夹具包括第一夹块和第二夹块，所述第一夹块和第二夹块相对设置，且所述第一夹块和第二夹块上均设有相互对应的第一方形缺口，两个所述第一方形缺口相互配合形成第一容纳区，所述第一夹块和第二夹块上还设有相互对应的第二方形缺口，所述第二方形缺口与所述第一方形缺口连接，所述第二方形缺口长度小于所述第一方形缺口的长度，且所述第二方形缺口位于所述第一方形缺口的下方，两个所述第二方形缺口相互配合形成第二容纳区，所述测试箱的侧壁上设有通孔，所述通孔内设有测试探头，所述测试探头活动设于所述通孔内，所述测试探头外接测试电路，所述装置主体还包括测试仪，所述测试仪与所述测试探头电性连接。
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