[实用新型]一种用于微波器件的检测装置

说明书

本实用新型公开了一种用于微波器件的检测装置，包括装置主体，装置主体包括测试箱，测试箱上部设有开口，开口上设有密封盖，测试箱底部设有检测台，检测台上设有夹具，夹具包括第一夹块和第二夹块，第一夹块和第二夹块相对设置，第一夹块和第二夹块上均设有相互对应的第一方形缺口，两个第一方形缺口相互配合形成第一容纳区，第一夹块和第二夹块上还设有相互对应的第二方形缺口，第二方形缺口与所述第一方形缺口连接，第二方形缺口位于第一方形缺口的下方，两个第二方形缺口相互配合形成第二容纳区，测试箱的侧壁上设有通孔，通孔内设有测试探头，测试探头外接测试电路，装置主体还包括测试仪。本实用新型结构简单、实用高效且能测试多种微波器件。

技术领域

本实用新型涉及检测设备领域，具体涉及一种用于微波器件的检测装置。

背景技术

微波器件广泛应用于微波放大电路中，在电路中要求具有较高的匹配性，目前微波器件普遍无法筛选，只能采用焊接方式装配后才能可靠的测试其性能，因而不能实现对独立微波器件的电气特性进行测量，仅通过装机后来剔除早期失效器件或是特性差的器件，在更换器件时，多次拆装过程会造成印制板焊盘损伤及其它器件损伤等问题，引发其它质量问题。现有的微波器件检测装置往往一个夹具只能匹配一种待测微波器件，而且检测探头也固定安装，对于不同的微波器件，往往需要检测的点位置不同，这就需要随时更换检测装置，十分不便。

实用新型内容

为解决现有技术中存在的问题，本实用新型提供了一种结构简单、实用高效且能测试多种微波器件的用于微波器件的检测装置。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种用于微波器件的检测装置，包括装置主体，所述装置主体包括测试箱，所述测试箱上部设有开口，所述开口上设有密封盖，所述密封盖通过转轴与所述测试箱连接，所述测试箱底部设有检测台，所述检测台上设有夹具，所述夹具包括第一夹块和第二夹块，所述第一夹块和第二夹块相对设置，且所述第一夹块和第二夹块上均设有相互对应的第一方形缺口，两个所述第一方形缺口相互配合形成第一容纳区，所述第一夹块和第二夹块上还设有相互对应的第二方形缺口，所述第二方形缺口与所述第一方形缺口连接，所述第二方形缺口长度小于所述第一方形缺口的长度，且所述第二方形缺口位于所述第一方形缺口的下方，两个所述第二方形缺口相互配合形成第二容纳区，所述测试箱的侧壁上设有通孔，所述通孔内设有测试探头，所述测试探头活动设于所述通孔内，所述测试探头外接测试电路，所述装置主体还包括测试仪，所述测试仪与所述测试探头电性连接。

在本技术方案中：需要对微波器件进行检测时，先打开密封盖，把待测微波器件放置在检测台上的夹具上，夹具上设置的第一夹块和第二夹块相互配合，可以形成两个方向相互垂直的第一容纳区和第二容纳区，待测微波器件根据需要测量点位置的不同，选择放置在第一容纳区或第二容纳区内，使待测微波器件能够更好地固定，也能使测试探头能够方便地与待测微波器件连接，然后从通孔中拉出测试探头，与待测微波器件进行连接，从而完成对待测微波器件的检测，检测数据传到至测试仪。

优选的，所述检测台上设有滑槽，所述滑槽有两个，且所述两个滑槽相互平行，所述第一夹块和第二夹块设于所述滑槽上，且所述第一夹块和第二夹块底部设有与所述滑槽相配的滑轮，所述第一夹块和第二夹块上还设有限位螺栓。根据不同的待测微波器件的尺寸大小和外形，滑动第一夹块或第二夹块，滑到适当距离时，通过限位螺栓固定第一夹块或第二夹块的位置，从而更好地固定待测微波器件。

优选的，所述测试探头有四个，且所述四个测试探头分别位于测试箱的四个侧壁上。可以更方便对各个方向测量点进行测量。

优选的，所述通孔上设有夹紧装置。在把测试探头与待测微波器件固定好之后，可以把待测探头夹紧，从而提高测试时的稳定性。

优选的，所述第二方形缺口位于所述第一方形缺口的中间。可以更好地固定住待测微波器件。

优选的，所述装置主体还包括显示屏，所述显示屏和所述测试仪电性连接。测试结果显示在显示屏中，方便工作人员查看。